IEC 62321:2008
電工制品.六種調節物質(鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多溴二苯醚)等級的測定

Electrotechnical products - Determination of levels of six regulated substances (lead, mercury, cadmium, hexavalent chromium, polybrominated biphenyls, polybrominated diphenyl ethers)

被代替

2013-07

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IEC 62321:2008 發布歷史

IEC 62321:2008由國際電工委員會 IX-IEC 發布于 2008-12-01，并于 2018-04-03 實施。

IEC 62321:2008 在中國標準分類中歸屬于: K04 基礎標準和通用方法，在國際標準分類中歸屬于: 13.020 環境保護,29.020 電氣工程綜合,43.040.10 電氣和電子設備。

本標準有等同采用的中文版 GB/T 26125-2011 電子電氣產品.六種限用物質（鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯和多溴二苯醚）的測定

IEC 62321:2008的歷代版本如下：

2023年 IEC 62321-3-4:2023 電工產品中某些物質的測定.第3-4部分:篩選.用紫外檢測器高效液相色譜法（HPLC-UV）、薄層色譜法（TLC）和熱解吸質譜法（TD-MS）測定電工產品聚合物中的鄰苯二甲酸鹽
2021年 IEC 62321-9:2021 電工產品中某些物質的測定第9部分:用色譜-質譜法（GC-MS）測定聚合物中的六溴環十二烷
2020年 IEC 62321-3-2:2020 電工產品中某些物質的測定第3-2部分:用燃燒離子色譜法（C-IC）篩選聚合物和電子產品中的氟、溴和氯
2017年 IEC 62321-4:2013/AMD1:2017 電工制品中特定物質的測定.第4部分:通過CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞.修改件1
2017年 IEC 62321-8:2017 電工技術產品中某些物質的測定. 第8部分: 采用氣相色譜質譜聯用儀(GC-MS), 配有熱裂解/熱脫附附件的氣相色譜質譜聯用儀(Py/TD-GC-MS)測定聚合物中的鄰苯二甲酸酯
2015年 IEC 62321-7-1:2015 電工產品中某些物質的測定 - 第7-1部分:六價鉻 - 通過比色法在無色和有色腐蝕保護涂層中存在六價鉻（Cr（VI））
2013年 IEC 62321-5:2013 電工制品中特定物質的測定.第5部分:通過原子吸收分光光度法(AAS)、原子熒光光譜法(AFS)、電感耦合等離子體發射光譜(ICP-OES)和電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)測定聚合物和電子中鎘、鉛和鉻及金屬中鎘和鉛
2008年 IEC 62321:2008 電工制品.六種調節物質(鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯苯、多溴二苯醚)等級的測定

"IEC 62321@ which is an International Standard@ specifies the determination of the levels of lead (Pb)@ mercury (Hg)@ cadmium (Cd)@ hexavalent chromium (Cr(VI)) contained in inorganic and organic compounds@ and two types of brominated flame retardants@ polybrominated biphenyls (PBB) and polybrominated diphenyl ethers (PBDE) contained in electrotechnical products. This standard refers to the sample as the object to be processed and measured. The nature of the sample and the manner in which it is acquired is defined by the entity carrying out the tests and not by this standard. NOTE 1 Further guidance on obtaining representative samples from finished electronic products to be tested for levels of regulated substances may be found in the future IEC Publicly Available Specification (PAS) for sampling disjointment1. It is noted that the selection of the sample may affect the interpretation of the test results. This standard does not determine: ? the definition of a ""unit"" or ""homogenous material"" as the sample; ? the disassembly procedure employed for obtaining a sample; ? assessment procedures. NOTE 2 Further guidance on assessment procedures may be found in the future IEC Technical Specification IEC/TS 62476[1]2. 1 Under consideration@ no number yet assigned. 2 Figures in square brackets refer to the bibliography."