原子力顯微鏡前沿
本專題涉及原子力顯微鏡前沿的標準有104條。
國際標準分類中，原子力顯微鏡前沿涉及到分析化學、物理學、化學、航空航天制造用材料、熱力學和溫度測量、長度和角度測量、有色金屬、試驗條件和規程綜合、光學和光學測量、光學設備、核能工程、飼料、陶瓷、詞匯、空氣質量、醫療設備、計量學和測量綜合、航空航天用流體系統和零部件。
在中國標準分類中，原子力顯微鏡前沿涉及到、放大鏡與顯微鏡、基礎標準與通用方法、基礎學科綜合、物理學與力學、勘探采礦和工藝監測核儀器、電子光學與其他物理光學儀器、畜禽飼料與添加劑、特種陶瓷、光學計量、醫療器械綜合、教育、學位、學銜、電磁計量、計量綜合、一般與顯微外科器械、技術管理、燃油系統及其附件、光電子器件綜合。
國際標準化組織，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- ISO 23729:2022 表面化學分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復程序指南
- ISO 8036:2006 光學和光子學.顯微鏡.光學顯微鏡浸液
- ISO 21222:2020 表面化學分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點JKR法測定柔順材料彈性模量的程序
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
- ISO 11884-2:2007 光學和光子學.立體顯微鏡的最低要求.第2部分:高性能顯微鏡
- ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 用透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
英國標準學會，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- BS ISO 23729:2022 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
- BS ISO 21222:2020 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- BS ISO 11884-2:2007 光學和光子學.立體顯微鏡的最低要求.高性能顯微鏡
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
- BS ISO 8036:2006 光學和光子學.顯微鏡.光學顯微學的浸液
- BS ISO 11884-1:2006 光學和光子學.體視顯微鏡的最低要求.通用體視顯微鏡
- 24/30479937 DC BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BS ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- GSO ISO 13095:2015 表面化學分析 原子力顯微鏡 用于納米結構測量的原子力顯微鏡探針卡盤的原位表征程序
- GSO ISO 8036:2015 光學和光子學 顯微鏡 用于光學顯微鏡的浸沒液
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- GSO ISO 15932:2015 微量分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力顯微鏡（技術背景）
- SPB-M2-1-2007 通過原子力顯微鏡研究瀝青質的界面和流變學特性
- SPB-M6-1-2010 08 月 4 日：使用原子力顯微鏡研究瀝青質的界面和流變特性
- SPB-M14-1-2010 月 10 日：通過原子力顯微鏡研究瀝青質的相互作用和流變學性質
中國團體標準，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測量 原子力顯微鏡法
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
- T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜楊氏模量的測定 原子力顯微鏡法
- T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準方法
美國材料與試驗協會，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的指南
- ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標準指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的標準指南
- ASTM E2859-11 利用原子力學顯微鏡進行尺寸測量的標準指南
- ASTM STP 372-1965 電子顯微鏡技術
- ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級對原子力顯微鏡進行次納米位移級的Z倍率校準的標準規程
韓國科技標準局，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側向力顯微鏡法
- KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡 側向力顯微鏡方法
- KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS B ISO 11884-2-2011(2021) 光學和光子學立體顯微鏡最低要求第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2-2011(2016) 光學和光子學立體顯微鏡最低要求第2部分:高性能顯微鏡
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
- KS B ISO 11884-2:2011 光學和光子學.立體顯微鏡的最低要求.第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2-2021 光學與光子學 體視顯微鏡的最低要求 第2部分：高性能顯微鏡
德國標準化學會，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進行粒子測量的準備和評估方法
- DIN 58272:2016 醫療器械.精制顯微鏡鑷子
- DIN 58272:2009 醫療器械.精制顯微鏡鑷子
- DIN 58272:1983 醫療器械；精制顯微鏡鑷子
國家質檢總局，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法
- GB/T 40066-2021 納米技術 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法
- GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法
- GB/T 32262-2015 用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
- GB/T 14698-2017 飼料原料顯微鏡檢查方法
- GB/T 34269-2017 飼料原料顯微鏡檢查圖譜
- GB/T 28872-2012 活細胞樣品納米結構的磁驅動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
未注明發布機構，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- AMPP Paper 17739-2022 原位原子力顯微鏡研究碳鋼表面微結構依賴性緩蝕劑吸附機理
- AMPP Paper 16610-2021 在位接觸模式原子力顯微鏡研究有機抑制劑吸附機制
行業標準-核工業，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- EJ/T 20176-2018 金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測量方法
行業標準-機械，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- JB/T 5585-1991 透射電子顯微鏡分辨力測試方法
- JB/T 5481-1991 電子顯微鏡用燈絲
- JB/T 5480-1991 電子顯微鏡用光闌
- JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
- JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術條件
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
阿曼規格和計量局，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- OS GSO ISO 8036:2015 光學和光子學 顯微鏡 光學顯微鏡用浸沒液體
- OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- OS GSO ISO 15932:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
美國給水工程協會，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- AWWA WQTC71603 利用原子力顯微鏡研究水質對銅腐蝕初期發展的影響
美國防腐工程師協會，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- NACE Paper 14792-2020 有機抑制劑在低碳鋼上的原位原子力顯微鏡和電化學測量研究
巴林國家計量局，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 15932:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
日本工業標準調查會，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS R 1683:2014 用原子力顯微鏡方法測定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗方法
- JIS R 1683:2007 用原子力顯微鏡方法測定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗方法
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
美國國防部標準化文件（含MIL標準），關于原子力顯微鏡前沿的標準
- DOD A-A-54873-1993 塑料顯微鏡載片盒子
- DOD A-A-53609-1988 顯微鏡防護玻璃罩鑷子
俄羅斯標準局，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- GOST R 8.635-2007 國家測量統一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.校準方法
- GOST 8.593-2009 國家測量統一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.鑒定方法
- GOST R 8.593-2009 確保測量一致性的國家體系.原子力掃描隧道顯微鏡.檢定規程
印度標準局，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- IS 13108-2019 光學和光子學 顯微鏡 光學顯微鏡浸沒液（第二次修訂）
行業標準-醫藥，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- YY 1296-2016 光學和光子學手術顯微鏡眼科用手術顯微鏡的光危害
法國標準化協會，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
國家計量技術規范，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范
行業標準-教育，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
國家計量檢定規程，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程
- JJG(教委) 12-1992 透射電子顯微鏡檢定規程
- JJG(地質) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規程
美國機動車工程師協會，關于原子力顯微鏡前沿的標準
- SAE ARP598C-2003 (R)液體動力系統的航空顯微鏡粒度法和微粒子污染
