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    • T/CSTM 00162-2020
    透射電子顯微鏡校準方法

    Calibration methods for transmission electron microscope


    T/CSTM 00162-2020封面圖

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    標準號
    T/CSTM 00162-2020
    發布
    2020年
    發布單位
    中國團體標準
    當前最新
    T/CSTM 00162-2020
     
     
    適用范圍
    本部分規定了透射電鏡校準方法的術語和定義、概述、計量特性、校準條件、校準項目和校準方法、測量結果不確定度評定、校準結果表達和復校時間間隔。 本標準適用于透射電鏡放大倍率、樣品污染率和樣品漂移率的校準。

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    T/CSTM 00162-2020 中可能用到的儀器設備

    體視顯微鏡/立體顯微鏡 熒光顯微鏡 原位樣品桿/臺 光學成像-CCD相機 激光共聚焦顯微鏡 透射電鏡TEM X射線(衍射)儀/能譜儀部件及外設 顯微圖像分析系統 生物顯微鏡 顯微鏡附件 超分辨率顯微鏡 電鏡附件及外設 材料/金相顯微鏡 工業顯微鏡/工具顯微鏡 數碼顯微鏡 光學儀器組件 顯微操作 納米壓痕儀、劃痕儀 離子減薄儀 儀器工作站及軟件 等離子體表面處理儀 包埋機 手術顯微鏡 活體成像 細胞成像/活細胞成像 其他包裝業專用


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