ISO 15932:2013
微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯
Microbeam analysis.Analytical electron microscopy.Vocabulary
- 標準號
- ISO 15932:2013
- 發布
- 2013年
- 中文版
- GB/T 40300-2021 (修改采用的中文版本)
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 15932:2013
- 適用范圍
- 本國際標準定義了 AEM 實踐中使用的術語。 它涵蓋了一般概念和特定概念，并根據其層次結構以系統順序進行分類。 本國際標準適用于與AEM實踐相關的所有標準化文件。 此外，本國際標準的某些部分適用于那些與相關領域（例如TEM、STEM、SEM、EPMA、EDX）實踐相關的文件，以定義這些領域通用的術語。
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