BS ISO 25498:2018
微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
- 標準號
- BS ISO 25498:2018
- 發布
- 2018年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS ISO 25498:2018
- 引用標準
- ASTM E3-11 ISO 15932:2013 ISO/IEC 17025
- 被代替標準
- BS ISO 25498:2010
BS ISO 25498:2018相似標準
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電子衍射的應用
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中科院上海硅酸鹽研究所——透射電鏡分析
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