GB/T 18907-2013
微束分析 分析電子顯微術 透射電鏡選區電子衍射分析方法
Microbeam analysis.Analytical electron microscopy.Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
GBT18907-2013, GB18907-2013
- 標準號
- GB/T 18907-2013
- 別名
- GBT18907-2013, GB18907-2013
- 發布
- 2013年
- 采用標準
- ISO 25498:2010 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 18907-2013
- 引用標準
- ISO/IEC 17025
- 被代替標準
- GB/T 18907-2002
- 適用范圍
- 本標準規定了用透射電子顯微鏡(TEM)對薄晶體試樣的微米和亞微米尺寸區域進行選區電子衍射分析的方法。被測試樣可以從各種金屬或非金屬材料的薄切片獲得,也可以采用細微的粉末或萃取復型試樣。應用本方法可分析的最小試樣選區直徑取決于顯微鏡物鏡的球差系數,對于現代TEM,試樣的最小選區直徑一般可達到0.5 μm。當被分析試樣區的直徑小于0.5 μm時仍然可以參照本標準的分析方法,但是由于球差的影響,衍射譜上的部分信息有可能來源于由選區光闌限定的區域之外,在這種情況下,如條件允許,最好采用微(納)衍射或者會聚束電子衍射方法。選區電子衍射方法的成功應用取決于對所獲得的衍射譜指數標定正確與否,而不論試樣的哪個晶帶軸平行于入射電子束,因而,這樣的分析往往需要借助試樣的傾轉和旋轉裝置。本標準適用于從晶體試樣上獲取SAED譜、標定衍射譜的指數以及校準電鏡的衍射常數。
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