BS ISO 25498:2018
微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區域進行電子衍射分析
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
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- 標準號
- BS ISO 25498:2018
- 發布
- 2018年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS ISO 25498:2018
- 引用標準
- ASTM E3-11 ISO 15932:2013 ISO/IEC 17025
- 被代替標準
- BS ISO 25498:2010
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