ISO 19214:2017
微束分析. 分析電子顯微術. 采用透射電子顯微鏡術測定絲狀晶體顯著增長方向的方法
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
- 標準號
- ISO 19214:2017
- 發布
- 2017年
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 19214:2017
- 引用標準
- ISO 24173:2009 ISO 25498:2010 ISO/IEC GUIDE 98-3:2008
- 適用范圍
- 該文件規定了一種通過透射電子顯微鏡測定表觀生長方向的方法。 適用于各種方法制備的各種線狀晶體材料。 該文獻還可以指導確定鋼、合金或其他材料中具有棒狀或多邊形形狀的第二相顆粒的軸方向。 待測晶體適用的直徑或寬度在數十至數百納米范圍內，具體取決于TEM的加速電壓和材料本身。 注：在本文件中，線狀晶體、帶狀晶體、針狀第二相顆粒等均包含在線狀晶體的大類中。
ISO 19214:2017相似標準
推薦
電子顯微鏡的發展史
當電子的速 度加到很高時，電子顯微鏡的分辨率可以達到納米級(10-9m)，使很多在可見光下看不見 的物體在電子顯微鏡下顯現了原形。因此，電子顯微鏡是20世紀*重要的發明之一兇。?1938年德國工程師Max KnoU和Ernst Ruska制造出了世界上*臺透射電子顯微鏡 ，透射電子顯微術是利用穿透薄膜試樣 的電子束進行成像或微區分析的一種電子顯微術。...
電子衍射的應用
由于物鏡球差及其聚焦誤差等原因，很難精確地從小于0.5μm的區域中得到衍射。隨著掃描透射電子顯微術（STEM）的發展，采用強烈聚焦的細小電子束照射樣品上極其有限的區域，與視場光闌的方法相比，不但選區尺寸小，而且精度高。這就是所謂微衍射（選區小于100nm）和微微衍射（選區小于10nm），也有人把它們分別叫做μ衍射和μμ衍射。...
電子探針儀與掃描電鏡有何異同
在透射方向安置二次電子探測器就可以使樣品位置移到距物鏡較近的地方﹐顯著提高二次電子像的分辨率。專門設計的掃描透射電子顯微鏡的分辨率也已達到2～3A的水平﹐在晶體缺陷的衍襯像﹑晶體的點陣像以及單個原子成像諸方面都已達到較高水平。 掃描透射電子顯微鏡方面比較突出的進展還是在透射電子顯微鏡中添加電子及X射線探測器﹐變成一個微區成分和微區晶體結構分析的有力工具。...
只需3分鐘，2018年電鏡重點大事了然于胸
掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法、 GB/T 33839-2017 基于生物效應含碳基納米材料生物樣品的透射電子顯微鏡檢測方法 GB/T 33838-2017 微束分析 掃描電子顯微術 圖像銳度評估方法 2017年第18號中國國家標準公告： GB/T 34002-2017 微束分析 透射電子顯微術...