ISO 19214:2017
微束分析. 分析電子顯微術. 采用透射電子顯微鏡術測定絲狀晶體顯著增長方向的方法
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
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- 標準號
- ISO 19214:2017
- 發布
- 2017年
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 19214:2017
- 引用標準
- ISO 24173:2009 ISO 25498:2010 ISO/IEC GUIDE 98-3:2008
- 該文件規定了一種通過透射電子顯微鏡測定表觀生長方向的方法。 適用于各種方法制備的各種線狀晶體材料。 該文獻還可以指導確定鋼、合金或其他材料中具有棒狀或多邊形形狀的第二相顆粒的軸方向。 待測晶體適用的直徑或寬度在數十至數百納米范圍內，具體取決于TEM的加速電壓和材料本身。 注：在本文件中，線狀晶體、帶狀晶體、針狀第二相顆粒等均包含在線狀晶體的大類中。
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