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導讀顯微分析技術重要的設備包括：光學顯微鏡(OM)、雙束掃描電子顯微鏡(DB-FIB)、掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)。今天的文章將介紹DB-FIB的原理及應用，重點介紹廣電計量DB-FIB的服務能力及DB-FIB應用于半導體分析相關的案例。什么是DB-FIB雙束掃描電子顯微鏡...
掃描電子顯微鏡的探針——高能電子的性質使其特別適合于檢查半導體材料的光學和電子特性。掃描電鏡電子束中的高能電子將把載流子注入半導體。因此，電子束中的電子通過使電子受激從價帶進入導帶而失去能量，留下空穴。 在直接帶隙材料中，這些電子-空穴對的復合將產生陰極射線發光；如果樣品含有內部電場，如pn結...
隨著科學技術不斷進步，微束分析技術在材料、生命等領域的應用越來越廣泛。然而，不同實驗機構之間的微束分析結果存在差異，給研究帶來諸多困擾。因此，通過推廣微束分析技術標準化的制定、修訂工作，不僅能提高科學實驗工作效率，還能促進技術發展和創新。電子顯微鏡作為最具代表性的微束分析儀器之一，可直接觀察納米級...
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