GB/T 23414-2009
微束分析.掃描電子顯微術.術語
Microbeam analysis.Scanning electron microscopy.Vocabulary
GBT23414-2009, GB23414-2009
- 標準號
- GB/T 23414-2009
- 別名
- GBT23414-2009, GB23414-2009
- 發布
- 2009年
- 采用標準
- ISO 22493:2008 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 23414-2009
- 適用范圍
- 本標準定義了掃描電子顯微術(SEM)實踐中使用的術語。包括一般術語和按技術分類的具體概念的術語，也包括已經在ISO 23833中定義的術語。 本標準適用于所有有關SEM實踐的標準化文件。另外，本標準的某些術語定義，也適用于相關領域的文件〔例如:電子探針顯微分析(EPMA)、分析電子顯微術(AEM)、能譜法(EDX)等〕。
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