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    • GB/T 23414-2009
    微束分析.掃描電子顯微術.術語

    Microbeam analysis.Scanning electron microscopy.Vocabulary

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    GB/T 23414-2009

    標準號
    GB/T 23414-2009
    發布日期
    2009年04月01日
    實施日期
    2009年12月01日
    廢止日期
    無
    中國標準分類號
    N33
    發布單位
    國家質檢總局
    適用范圍
    本標準定義了掃描電子顯微術(SEM)實踐中使用的術語。包括一般術語和按技術分類的具體概念的術語，也包括已經在ISO 23833中定義的術語。 本標準適用于所有有關SEM實踐的標準化文件。另外，本標準的某些術語定義，也適用于相關領域的文件〔例如:電子探針顯微分析(EPMA)、分析電子顯微術(AEM)、能譜法(EDX)等〕。

    GB/T 23414-2009相似標準

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