GB/T 30543-2014
納米技術 單壁碳納米管的透射電子顯微術表征方法
Nanotechnologies.Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy
GBT30543-2014, GB30543-2014
- 標準號
- GB/T 30543-2014
- 別名
- GBT30543-2014, GB30543-2014
- 發布
- 2014年
- 采用標準
- ISO/TS 10797:2012 MOD
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 30543-2014
- 引用標準
- GB/T 23414-2009 GB/T 27025-2008 ISO 29301 ISO/TS 80004-3 JJG 011-1996
- 適用范圍
- 本標準規定了單壁碳納米管的透射電子顯微術表征形貌的方法,及識別單壁碳納米管樣品中其他材料元素組成的能譜法。本標準適用于檢測單壁碳納米管的基本結構,包括形貌、缺陷、直徑分布、管束大小和取向、結晶情況,以及元素組分和手性分析等。
GB/T 30543-2014相似標準
推薦
電鏡在碳納米管表征中的應用
為此，本文首先總結碳納米管的結構特點，接著對透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡在碳納米管的結構和形貌表征中的應用作了簡要的概述。一、碳納米管的結構及其透射電鏡表征?? ? 碳納米管是由一層或數層石墨片卷曲而成的高長徑比的一種一維管狀納米結構。其中最重要的結構是單壁碳納米管和多壁碳納米管。單壁碳納米管被認為由一層石墨片卷曲而成，而多壁碳納米管就好像由多個單壁碳納米管形成的同心結構。...
中科院物理所研制出原位透射電鏡測量儀器
最近，中國科學院物理研究所/北京凝聚態物理國家實驗室SF1組研制出新的原位透射電鏡測量裝置，實現了納米管/納米線場效應晶體管器件單元在透射電鏡中的原位表征。在確定器件材料結構的同時，原位測量電輸運性質。他們將這種方法運用到雙壁碳納米管研究上，在實驗上直接獲得了雙壁碳納米管電輸運性質與手性指數的對應關系，相關結果發表在J. Am. Chem....
單顆粒ICP-MS應用：納米管分析
隨著納米技術的應用日益頻繁，各種納米材料廣泛應用于各類產品當中。碳納米管（CNT）是使用最廣泛的納米材料之一，其年生產量高達上千噸。其生產過程通常會用到金屬催化劑，因此碳納米管表面可能殘留金屬納米粒子。碳納米管的透射電子顯微鏡（TEM）圖像，深色區域為金屬顆粒，附著在無定形石墨材料和長單壁碳納米管上測量碳納米管上的金屬含量是一項極大的挑戰。...
中科院物理所時間分辨電子顯微鏡研制成功
基于本儀器，李建奇課題組成功研究了多壁碳納米管受激光激發后的晶格響應過程，揭示了多壁碳納米管中存在的顯著各向異性晶格動力學過程，展示了4D-UTEM的高空間和超快時間分辨率能力，論文發表在ScientificReports5(2015)8404上。 該儀器的成功研制不僅提升了我國電子顯微鏡裝備水平，也增強了我國科學儀器設備的自主創新能力。...
GB/T 30543-2014 中可能用到的儀器設備
電鏡用X射線能譜儀EDS
原位樣品桿/臺
X熒光光譜/XRF（能量色散型X熒光光譜儀）
激光共聚焦顯微鏡
分子熒光光譜/熒光分光光度計
X射線能譜儀(EDS)
X射線衍射儀(XRD)
光學成像-CCD相機
體視顯微鏡/立體顯微鏡
X射線(衍射)儀/能譜儀部件及外設
掃描電鏡SEM
X射線顯微鏡
掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM
超分辨率顯微鏡
其它光學測量儀
顯微圖像分析系統
顯微鏡附件
透射電鏡TEM
高光譜儀/高光譜成像儀
X射線相機
FIB-SEM雙束聚焦掃描電鏡
MALDI質譜
電鏡制樣設備
生物顯微鏡
工業顯微鏡/工具顯微鏡
光學儀器組件
電鏡附件及外設
石英晶體天平
材料/金相顯微鏡
光鑷（光學鑷子）
顯微操作
拉曼光譜儀
激光粒度儀、納米粒度儀
X射線實時成像檢測系統
圖像粒度粒形分析儀
納米壓痕儀、劃痕儀
工業CT
磁粉探傷
白光干涉測厚儀
其他試驗機
LB膜分析儀
等離子體表面處理儀
催化劑評價
均質器 /勻漿機/乳化機
手套箱
電子束刻蝕
化學合成儀
高內涵篩選/成像
CT
納米藥物制備及遞送
細胞成像/活細胞成像
活體成像
分子互作分析儀
智能化控制
靜電紡絲機
不溶性微粒檢測儀
聚烯烴表征分析
其他包裝業專用
跟蹤儀/跟蹤器
溫濕度檢定和校準
粒子圖像測速儀(PIV)
臺階儀
力學量測量儀表(位移、力等)
脈沖電子沉積(PED)
化學氣相沉積（CVD）
半導體專用檢測儀器設備