ASTM E2859-11
利用原子力學顯微鏡進行尺寸測量的標準指南

Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy

被代替

標準號

ASTM E2859-11

發布

2011年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM E2859-11(2017)

當前最新

ASTM E2859-11(2023)

 

 

適用范圍

隨著AFM測量技術的成熟和普及，該技術已被納米技術研究和開發界廣泛采用，以至于它現在被認為是納米尺度結構可視化和量化的不可或缺的工具。無論是用作獨立方法還是補充其他尺寸測量方法，AFM 現已成為納米顆粒測量工具箱中牢固確立的組成部分。截至本指南起草時，基于 AFM 測定納米顆粒尺寸的國際標準尚不存在。因此，本標準旨在為 AFM 的應用提供實用和計量指導，以根據探針在顆粒表面光柵掃描以創建線輪廓時的最大位移來測量基底支撐的納米顆粒的尺寸。
1.1 本文件的目的旨在為原子力顯微鏡 (AFM) 的定量應用提供指導，以使用高度（z 位移）測量來確定以干燥形式沉積在平坦基底上的納米顆粒的尺寸。與提供樣品的二維投影或二維圖像的電子顯微鏡不同，AFM 提供三維表面輪廓。雖然橫向尺寸受到探針形狀的影響，但位移測量可以提供高精度的納米顆粒高度。如果假設顆粒是球形的，則高度測量值對應于顆粒的直徑。在本指南中，描述了將金納米粒子分散在各種表面上的程序，以便它們適合通過間歇接觸模式 AFM 進行成像和高度測量。然后討論 AFM 校準和進行此類測量的操作的通用程序。最后，討論了數據分析和報告的程序。用于舉例說明這些程序的納米顆粒是美國國家標準與技術研究所 (NIST) 的參考材料，其水溶液中含有檸檬酸鹽穩定的帶負電的金納米顆粒。
1.2 以 SI 單位表示的值應被視為標準值。本標準不包含其他計量單位。
1.3 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。

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