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原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM），也稱掃描力顯微鏡（scanning force microscope，SFM）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡，優于光學衍射極限1000倍。...
自掃描式穿隧顯微鏡問世以來，更有幾十種類型的探針顯微鏡一直不斷地被開發出來，以探針方式的掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope, SPM)是個大家族，其中較熟識之技術如：掃描式穿隧顯微鏡(STM)，近場光學顯微鏡(NSOM)，磁力顯微鏡(MFM)，化學力顯微鏡(CFM)，掃描式熱電探針顯微鏡(SThM)，相位式探針顯微鏡(PDM)，靜電力顯微鏡(EFM)、側向摩擦力顯微鏡...
自掃描式穿隧顯微鏡問世以來，更有幾十種類型的探針顯微鏡一直不斷地被開發出來，以探針方式的掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope, SPM)是個大家族，其中較熟識之技術如：掃描式穿隧顯微鏡(STM)，近場光學顯微鏡(NSOM)，磁力顯微鏡(MFM)，化學力顯微鏡(CFM)，掃描式熱電探針顯微鏡(SThM)，相位式探針顯微鏡(PDM)，靜電力顯微鏡(EFM)、側向摩擦力顯微鏡...
自掃描式穿隧顯微鏡問世以來，更有幾十種類型的探針顯微鏡一直不斷地被開發出來，以探針方式的掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope, SPM)是個大家族，其中較熟識之技術如：掃描式穿隧顯微鏡(STM)，近場光學顯微鏡(NSOM)，磁力顯微鏡(MFM)，化學力顯微鏡(CFM)，掃描式熱電探針顯微鏡(SThM)，相位式探針顯微鏡(PDM)，靜電力顯微鏡(EFM)、側向摩擦力顯微鏡...
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