日前,由中國科學技術大學工程科學學院黃文浩教授主持制訂的國際標準“掃描探針顯微鏡漂移測量方法(ISO11039:2012)”已由國際標準化組織正式發布。 自20世紀80年代掃描探針顯微鏡(Scanning-probe microscopy,SPM)發明以來,由于其具有原子量級的分辨能力,極大地促進了納米科學技術的發展,并已逐步形成了一種高新技術產業。...
LiteScope?是一種獨特的掃描探針顯微鏡(SPM)。?它設計用于輕松集成到各種掃描電子顯微鏡(SEM)中。?組合互補的SPM和SEM技術使其能夠利用兩者的優勢。使用LiteScope?及其可更換探針系列,可以輕松進行復雜的樣品分析,包括表面形貌,機械性能,電性能,化學成分,磁性能等的表征。相關探針和電子顯微鏡?(CPEM)結合了SPM和SEM技術。 ?...
CPEM技術的優點CPEM提供多維相關成像 - 來自掃描電子顯微鏡的圖像被擴展為3D。使用CPEM,可以快速準確地區分SEM圖像中的地形和材料對比度。CPEM以適當的方式將兩個或多個SEM信號與測量的地形相關聯,例如SE,BSE,EBIC等。CPEM可以在相同的條件下同時測量AFM和SEM試樣條件,相同的測量速度等組合的AFM和SEM掃描系統可實現精確的圖像相關,消除漂移和其他不準確性。...
利用基于數學形態學算法,通過數值模擬,研究影響原子力顯微鏡粗糙度測量的探針和樣品的幾何因素。分析中同時考慮針尖曲率半徑、被測樣品表面的原始相關長度、標準偏差和高度分布形態等綜合因素。并且從實驗上表明了掃描速率對表觀圖像質量和測量粗糙度的影響。這部分工作在AFM掃描圖像定量評價上有重要意義。...
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