找不到引用GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法 的標準
本標準規定了SPM漂移速率的術語和定義、縮略語、測量步驟、性能參數規格,及基于SPM掃描圖像的漂移速率測量基波方法。 本標準適用于0.01nm/s到10nm/s的漂移速率測量。本標準中的漂移測量不適用于圖像校正。
近二十年來一直從事納米技術與精密儀器領域的研制工作。在2006年,他向國際標準化組織ISO/TC201(表面化學分析技術委員會)提出了“掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法標準”的提案,目的是要將SPM工作時納米/秒的漂移大小和方向測量出來,以規范這類儀器的使用方法。2007年該提案正式立項,黃文浩教授被...
? ? ?該顯微鏡包括有PZT掃描管,導電金屬探針及下表面具有導電層的非導電樣品、掃描隧道顯微鏡控制器、頻率信號發生和相位檢測器、前置放大器和微型計算機。采用具有較小或不要直流分量的交流偏壓方法,在探針和被測樣品間電容或介電損耗角隨頻率變化的曲線峰值附近或斜率變化最大處,選擇若干個工作頻率,用電容...
? ? 本實用新型涉及的掃描電子顯微鏡使用的探針原位電學特性測量裝置,包括一個或多個原位電學特性分測量器、電子源、電學性質測試儀器和內裝加熱器的樣品臺;所述多個原位電學特性分測器以樣品臺為中心環繞樣品臺均勻分布,其結構分別為:一鎢探針固定在金屬測量桿的一端,金屬測量桿另一端套裝絕緣套并與三維調節桿...
? ? ? 由于難以解決在微觀尺度下電極與測量對象的準確接觸,因此傳統的電阻測量方法無法適用于微納結構的電阻測量。? ? ? 尋找新的微小結構電阻測量方法,成為納米技術關注的重點。掃描探針顯微鏡(SPM)能夠觀察到微觀物質的表面形貌,其中STM具有納安級電流的檢測能力,而且在微觀操控上具備優勢...
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