從原理到應用,關于AFM你想了解的都在這里~原子力顯微鏡(AFM)的使用和成像技巧拿到AFM數據后,你有哪些處理方式?原子力顯微鏡(AFM)知識匯總第一塊 基本知識和原理原子力顯微鏡(atomic force microscope,簡稱AFM)是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。...
? ? ? ?原子力顯微鏡的應用范圍十分廣泛,其適用于生物、高分子、陶瓷、金屬材料、礦物、皮革等固體材料等的顯微結構和納米結構的觀測,以及粉末、微球顆粒形狀、尺寸及粒徑分布的觀測等。原子力顯微鏡的三種工作模式 目前原子力顯微鏡有三種工作模式,接觸模式、輕敲模式和非接觸模式。 1、接觸模式 原子力顯微鏡接觸模式包括恒力模式和恒高模式。 ...
??相位移模式原子力顯微鏡作為輕敲模式的一項重要的擴展技術,相位移模式通過檢測驅動微懸臂探針振動的信號源的相位角與微懸臂探針實際振動的相位角之差(即兩者的相移)的變化來成像。引起該相移的因素很多,如樣品的組分、硬度、粘彈性質等。因此利用相位移模式,可以在納米尺度上獲得樣品表面局域性質的豐富信息。相位移模式已成為原子力顯微鏡/AFM的一種重要檢測技術。圖3?相位移模式測試原理示意圖??...
可提供其他SFM技術所不能揭示的,關于表面納米尺度的結構信息。它是通過輕敲模式掃描過程中振動微懸臂的相位變化來檢測表面組分、粘附性、摩擦、粘彈性和其他性質變化的。對于識別表面污染物、復合材料中的不同組分以及表面粘性或硬度不同的區域是非常有效的。同原子力顯微鏡(AFM)輕敲模式成像技術一樣快速、簡便,并具有可對柔軟、粘附、易損傷或松散結合樣品進行成像的優點。...
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