GB/T 21636-2008
微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術語
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis (EPMA).Vocabulary
GBT21636-2008, GB21636-2008
2022-07
- 標準號
- GB/T 21636-2008
- 別名
- GBT21636-2008, GB21636-2008
- 發布
- 2008年
- 采用標準
- ISO 23833:2006 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 替代標準
- GB/T 21636-2021
- 當前最新
- GB/T 21636-2021
- 適用范圍
- 本標準定義了電子探針顯微分析（EPMA）實踐中使用的術語，包括一般概念的術語和按技術等級分類的具體概念的術語。 本標準適用于所有有關電子探針顯微分析（EPMA）踐的標準化文件，部分適用于相關領域[例如：掃描電子顯微鏡（SEM），分析電子顯微鏡（AEM），X射線能譜儀等]的標準化文件，用于定義共用的術語。
GB/T 21636-2008相似標準
推薦
一文了解EPMA制樣要求
國家質檢總局，關于epma 制樣的標準 GB/T 21636-2008 微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術語 國際標準化組織，關于epma 制樣的標準 ISO 19463-2018 微光束分析.電子探針顯微分析儀（EPMA）.執行質量保證程序的指南 ISO 23833-2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯 ISO 23833-2006 微光束分析.電子探針微量分析...
SEM與EPMA對比總結
同等功能的EPMA比SEM系統造價高出許多。 電子探針(EPMA)具有顯微形貌觀察和成分分析的功能，與SEM+EDS相比，電子探針更側重成分分析。電子探針因出色的微區元素分析能力，被廣泛應用于材料質量解析、失效分析及熱處理工藝等研究。...
掃描電子顯微鏡（SEM）和電子探針顯微分析裝置（EPMA）
掃描電子顯微鏡和電子探針顯微分析儀基本原理相同，但很多人分不清其差異，實際上需要使用電子探針領域比較少，而掃描電鏡相對普遍。掃描電子顯微鏡（SEM），主要用于固體物質表面電子顯微高分辨成像，接配電子顯微分析附件，可做相應的特征信號分析。...
什么是電子探針顯微分析儀
電子探針顯微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全稱：電子探針x射線顯微分析，是一種顯微分析和成分分析相結合的微區分析。適用于分析試樣中微小區域的化學成分，是研究材料組織結構和元素分布狀態的有效方法。 電子探針顯微分析是利用聚焦電子束（電子探測針）照射試樣表面待測的微小區域，從而激發試樣中元素產生不同波長（或能量）的特征X射線。...
GB/T 21636-2008 中可能用到的儀器設備
電子探針X射線微區分析儀(EPMA)
電鏡用X射線能譜儀EDS
X射線衍射儀(XRD)
X射線能譜儀(EDS)
激光共聚焦顯微鏡
電子背散射衍射系統EBSD系統
X射線散射儀
其它光學測量儀
X射線(衍射)儀/能譜儀部件及外設
X熒光光譜/XRF（能量色散型X熒光光譜儀）
X熒光光譜/XRF（波長色散型）
熱解吸儀，熱脫附儀
掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM
金屬多元素分析儀
核磁共振波譜儀
順磁共振波譜儀
電鏡附件及外設
顯微圖像分析系統
顯微操作
透射電鏡TEM
材料/金相顯微鏡
光學平臺
激光光散射儀
X射線探傷機、X射線探傷儀
粒子分散性分析儀
熔點儀
其他試驗機
等離子體表面處理儀
電子束刻蝕
切割機
冠層分析儀
分子互作分析儀
蛋白質穩定性分析儀
氣溶膠分析儀
其他包裝業專用
其它行業專用
粒子圖像測速儀(PIV)
原子層沉積(ALD)