GB/T 21636-2008
微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術語
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis (EPMA).Vocabulary
GBT21636-2008, GB21636-2008
2022-07
GB/T 21636-2008 中，可能用到以下儀器設備
- 標準號
- GB/T 21636-2008
- 別名
- GBT21636-2008
GB21636-2008 - 發布
- 2008年
- 采用標準
- ISO 23833:2006 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 替代標準
- GB/T 21636-2021
- 當前最新
- GB/T 21636-2021
- 本標準定義了電子探針顯微分析（EPMA）實踐中使用的術語，包括一般概念的術語和按技術等級分類的具體概念的術語。 本標準適用于所有有關電子探針顯微分析（EPMA）踐的標準化文件，部分適用于相關領域[例如：掃描電子顯微鏡（SEM），分析電子顯微鏡（AEM），X射線能譜儀等]的標準化文件，用于定義共用的術語。
GB/T 21636-2008相似標準
推薦
《微束分析 電子探針顯微分析（EPMA）術語》征集意見
按要求，新版《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術語》將替代《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術語》GB/T 21636—2008/ISO 23833:2006。...
一文了解EPMA制樣要求
國家質檢總局，關于epma 制樣的標準 GB/T 21636-2008 微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術語 國際標準化組織，關于epma 制樣的標準 ISO 19463-2018 微光束分析.電子探針顯微分析儀（EPMA）.執行質量保證程序的指南 ISO 23833-2013 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).詞匯 ISO 23833-2006 微光束分析.電子探針微量分析...
SEM與EPMA對比總結
同等功能的EPMA比SEM系統造價高出許多。 電子探針(EPMA)具有顯微形貌觀察和成分分析的功能，與SEM+EDS相比，電子探針更側重成分分析。電子探針因出色的微區元素分析能力，被廣泛應用于材料質量解析、失效分析及熱處理工藝等研究。...
掃描電子顯微鏡（SEM）和電子探針顯微分析裝置（EPMA）
掃描電子顯微鏡和電子探針顯微分析儀基本原理相同，但很多人分不清其差異，實際上需要使用電子探針領域比較少，而掃描電鏡相對普遍。掃描電子顯微鏡（SEM），主要用于固體物質表面電子顯微高分辨成像，接配電子顯微分析附件，可做相應的特征信號分析。...
GB/T 21636-2008 中可能用到的儀器設備
電子探針X射線微區分析儀(EPMA)
電鏡用X射線能譜儀EDS
X射線衍射儀(XRD)
X射線能譜儀(EDS)
激光共聚焦顯微鏡
X射線散射儀
X射線(衍射)儀/能譜儀部件及外設
X熒光光譜/XRF（能量色散型X熒光光譜儀）
X熒光光譜/XRF（波長色散型）
電子背散射衍射系統EBSD系統
其它光學測量儀
熱解吸儀，熱脫附儀
掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM
金屬多元素分析儀
核磁共振波譜儀
順磁共振波譜儀
顯微操作
顯微圖像分析系統
透射電鏡TEM
光學平臺
材料/金相顯微鏡
激光光散射儀
X射線探傷機、X射線探傷儀
粒子分散性分析儀
熔點儀
其他試驗機
等離子體表面處理儀
電子束刻蝕
冠層分析儀
分子互作分析儀
蛋白質穩定性分析儀
氣溶膠分析儀
原子層沉積系統（ALD）
其他包裝業專用
其它行業專用
粒子圖像測速儀(PIV)
誰引用了GB/T 21636-2008 更多引用
GB/T 15246-2022 微束分析 硫化物礦物的電子探針定量分析方法
GB/T 17360-2020 微束分析 鋼中低含量硅、錳的電子探針定量分析方法
GB/T 33165-2016 高碳鋼盤條中心偏析定量分析方法
GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數及核查方法
GB/T 32055-2015 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析
GB/T 18735-2014 微束分析 分析電鏡(AEM/EDS)納米薄標樣通用規范
GB/T 28872-2012 活細胞樣品納米結構的磁驅動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
GB/T 28873-2012 納米顆粒生物形貌效應的環境掃描電子顯微鏡檢測方法通則