環境掃描電鏡 和 掃描電鏡
本專題涉及環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準有158條。
國際標準分類中，環境掃描電鏡 和 掃描電鏡涉及到光學設備、光學和光學測量、建筑材料、詞匯、教育、分析化學、長度和角度測量、表面處理和鍍涂、有色金屬、空氣質量、電子顯示器件、熱力學和溫度測量、犯罪行為防范、金屬材料試驗、涂料和清漆、紡織纖維、光電子學、激光設備。
在中國標準分類中，環境掃描電鏡 和 掃描電鏡涉及到電子光學與其他物理光學儀器、電磁計量、、檢驗專用設備、化學計量、教學專用儀器、基礎標準與通用方法、技術管理、材料防護、教育、學位、學銜、石油地質勘探、放大鏡與顯微鏡、石油勘探、開發與集輸工程綜合、電化學、熱化學、光學式分析儀器、記錄儀器及光線示波器、光學設備、金屬化學性能試驗方法、光學計量、犯罪鑒定技術、金相檢驗方法、大氣環境有毒害物質分析方法、油頁巖、化學纖維綜合、混凝土、集料、灰漿、砂漿、金屬物理性能試驗方法、貴金屬及其合金分析方法、顏料、稀有金屬及其合金分析方法。
日本工業標準調查會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準圖像放大指南
國際標準化組織，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO 14966:2019 環境空氣.無機纖維顆粒數值濃度的測定.掃描電子顯微鏡法
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
- ISO 14966:2002 環境空氣.無機纖維顆粒的數值濃度的測定.掃描電子顯微鏡檢查法
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 14966:2002/cor 1:2007 環境空氣.無機纖維顆粒數值濃度的測定.掃描電子顯微鏡法.技術勘誤1
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用電掃描探針顯微鏡對半導體器件中載流子濃度進行實驗量化的指南
- ISO 19749:2021 納米技術.用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
行業標準-商品檢驗，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學顯微鏡法
- SN/T 3009-2011 金屬表面海水腐蝕掃描電鏡鑒定方法
SCC，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準標準
- AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評估膜表面污染模式
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- VDI 3492-2013 測量室內空氣污染 測量排放物 測量無機纖維顆粒 掃描電子顯微鏡法
- DANSK DS/EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法 (ISO 9220:1988)
國家計量技術規范，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范
- JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準規范
行業標準-機械，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
- JB/T 7503-1994 金屬覆蓋層橫截面厚度.掃描電鏡測量方法
國家計量檢定規程，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規程
韓國科技標準局，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
- KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側向力顯微鏡法
- KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
- KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡 側向力顯微鏡方法
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－掃描電子顯微鏡－圖像放大率校準指南
- KS D 2714-2006 掃描探針顯微鏡.橫向剪切力的測量方法
- KS D 2713-2021 NSOM（近場掃描光學顯微鏡）空間分辨率評價
中國團體標準，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- T/SPSTS 032-2023 掃描電化學顯微鏡通用規范
- T/CSTM 00795-2022 材料實驗數據 掃描電鏡圖片要求
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
- T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的測定掃描電鏡-能譜法
- T/CSTM 00346-2021 鋼中夾雜物的自動分類和統計 掃描電鏡能譜法
- T/SPSTS 030-2023 石墨烯材料 片徑尺寸測量 掃描電子顯微鏡法
- T/NLIA 004-2021 增材制造鋁合金掃描電鏡原位拉伸 試驗方法
- T/CNIA 0161-2023 變形鋁及鋁合金組織形貌檢驗方法 掃描電鏡法
GSO，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 圖像清晰度評價方法
- OS GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 評估圖像清晰度的方法
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
國家軍用標準-總裝備部，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- GJB 2666-1996 掃描反射鈹鏡體規范
- GJB 2666A-2018 掃描反射鈹鏡體規范
- GJB 737.11-1993 火工品藥劑試驗方法 粒度測定 掃描電鏡法
- GJB 8288-2014 超高速轉鏡式掃描攝影系統檢定規程
KR-KS，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 16700-2023 微束分析掃描電子顯微鏡圖像放大率校準指南
- KS C ISO 19749-2023 納米技術——用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
行業標準-教育，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
- JY/T 0582-2020 掃描探針顯微鏡分析方法通則
- JY/T 0586-2020 激光掃描共聚焦顯微鏡分析方法通則
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
英國標準學會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- 18/30375050 DC BS ISO 14966 環境空氣 無機纖維顆粒數值濃度的測定 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 14966:2002 環境空氣.無機纖維顆粒的數值濃度的測定.掃描電子顯微鏡檢查法
- BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準指南
- BS ISO 21466:2019 微束分析 掃描電子顯微鏡 CDSEM評估關鍵尺寸的方法
- BS ISO 16700:2016 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準圖像放大率的指南
- BS ISO 19749:2021 納米技術 用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
國家質檢總局，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法
- GB/T 17722-1999 金屬蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
- GB/T 28873-2012 納米顆粒生物形貌效應的環境掃描電子顯微鏡檢測方法通則
- GB/T 30834-2022 鋼中非金屬夾雜物的評定和統計 掃描電鏡法
- GB/T 30834-2014 鋼中非金屬夾雜物的評定和統計 掃描電鏡法
- GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 27788-2011 微束分析.掃描電鏡.圖像放大倍率校準導則
- GB/T 18295-2001 油氣儲層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法
- GB/T 36422-2018 化學纖維 微觀形貌及直徑的測定 掃描電鏡法
- GB/T 29190-2012 掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法
美國材料與試驗協會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- ASTM E766-98(2003) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E766-98 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的標準指南
- ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準的標準方法
- ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數的標準校正規范
- ASTM C1723-10 用掃描電子顯微鏡檢驗硬化混凝土的標準指南
- ASTM C1723-16(2022) 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標準指南
- ASTM C1723-16 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標準指南
- ASTM E766-14(2019) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數的標準實施規程
上海市標準，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法
國家能源局，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
行業標準-石油，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
德國機械工程師協會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- VDI 3866 Blatt 5-2004 技術產品中石棉的測定掃描電鏡法
- VDI 3492-2004 室內空氣測量-環境空氣測量-無機纖維顆粒的測量-掃描電子顯微鏡法
行業標準-司法，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- SF/T 0139-2023 泥土檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
廣東省標準，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評價方法
江蘇省標準，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- DB32/T 4546-2023 電鏡掃描硅藻圖像自動化檢驗技術規范
- DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微區覆蓋度測試 掃描電子顯微鏡法
VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- VDI 3866 BLATT 5-2015 技術產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 Blatt 5-2003 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3492-2011 室內空氣測量 環境空氣測量 無機纖維顆粒的測量 掃描電子顯微鏡法
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- GB/T 27788-2020 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則
- GB/T 38783-2020 貴金屬復合材料覆層厚度的掃描電鏡測定方法
美國國家標準學會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- ANSI/ASTM D6059:2001 用掃描電子顯微鏡測定工作環境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法
SE-SIS，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
- SIS SS CECC 00013-1985 基本規范．半導體芯片的掃描電子顯微鏡觀察
RU-GOST R，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- GOST R 8.594-2009 確保測量一致性的國家體系.掃描電子顯微鏡
法國標準化協會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- NF T25-111-4:1991 碳纖維-織構和結構-第4部分：掃描電子顯微鏡斷口法
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布
- XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 - 掃描電子顯微鏡 - 評估圖像清晰度的方法
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 掃描電子顯微鏡 評價圖像清晰度的方法
丹麥標準化協會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- DS/ISO 19749:2021 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布
德國標準化學會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法
歐洲標準化委員會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- EN ISO 19749:2023 納米技術.用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
西班牙標準化協會，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡方法
工業和信息化部，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- YS/T 1491-2021 鎳基高溫合金粉末球形率測定方法 掃描電鏡法
行業標準-公共安全標準，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- GA/T 1939-2021 法庭科學 電流斑檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1938-2021 法庭科學 金屬檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1937-2021 法庭科學 橡膠檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
福建省地方標準，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- DB35/T 110-2000 油漆物證檢測電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法
立陶宛標準局，關于環境掃描電鏡 和 掃描電鏡的標準
- LST EN ISO 9220:2001 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）
