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KS D ISO 16700:2013
微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南

Microbeam analysis－Scanning electron microscopy－Guidelines for calibrating image magnification

被代替

標準號: KS D ISO 16700:2013
發布: 2013年
發布單位: 韓國科技標準局
替代標準: KS D ISO 16700-2013(2018)
當前最新: KS D ISO 16700-2023

被代替標準: KS D ISO 16700:2007

適用范圍: 本標準規定了使用適當標準校準掃描電子顯微鏡圖像放大倍率的方法。

專題

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KS D ISO 16700:2013 中可能用到的儀器設備

掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM FIB-SEM雙束聚焦掃描電鏡掃描電鏡SEM 電鏡附件及外設顯微圖像分析系統粒子圖像測速儀(PIV)

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