庫侖法測厚,將被測金屬鍍層作為陽極,并置于電解液中進行電解,所溶解的金屬量與通過的電流和溶解時間的乘積成比例,既與消耗的電量成比例。 【測試范圍】適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法,包括測量多層體系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度,還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度,尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。...
a)?磁性法(F?型測量頭)當測量頭與覆蓋層接觸時,測量頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。b)?渦流法(N?型測量頭)利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場,當測量頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產生電渦流,并對測量頭中的線圈產生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。?...
磁性法(f型測頭):當測頭與覆蓋層接觸時,測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。渦流法(n型測頭):利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場,當測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產生電渦流,并對測頭中的線圈產生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。...
渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時,由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流,此渦流產生的磁場又反作用于探頭線圈,使其阻抗發生變化,此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關,因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。...
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