顯微鏡法(金相試片觀察) 將經過氧化的零件,切取一試片用金相試片的方法處理后,放在顯微鏡下,觀察氧化膜的厚度。 GB-T6462-2005 金屬和氧化物涂覆層厚度測量-顯微鏡法 中說明了試樣的制備,以及這種方法的偏差。 ...
庫侖法測厚,將被測金屬鍍層作為陽極,并置于電解液中進行電解,所溶解的金屬量與通過的電流和溶解時間的乘積成比例,既與消耗的電量成比例。 【測試范圍】適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法,包括測量多層體系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度,還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度,尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。...
符合以下標準GB/T 4956─1985?磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量?磁性方法GB/T 4957─1985?非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量?渦流方法JB/T 8393─1996?磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG 889─95?《磁阻法測厚儀》JJG 818─93?《電渦流式測厚儀》?WH92涂層測厚儀特點采用了磁性和渦流兩種測厚方法,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度...
磁性法(f型測頭):當測頭與覆蓋層接觸時,測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。渦流法(n型測頭):利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場,當測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產生電渦流,并對測頭中的線圈產生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。...
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