SY/T 5162-2014
巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
Analytical method of rock sample by scanning electron microscope
SYT5162-2014, SY5162-2014
2022-02
- 標準號
- SY/T 5162-2014
- 別名
- SYT5162-2014, SY5162-2014
- 發布
- 2014年
- 發布單位
- 行業標準-石油
- 替代標準
- SY/T 5162-2021
- 當前最新
- SY/T 5162-2021
- 適用范圍
- 本標準規定了巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法和技術要求。 本標準適用于碎屑巖、碳酸鹽巖、巖漿巖、變質巖樣品的掃描電子顯微鏡分析。
SY/T 5162-2014相似標準
推薦
場發射掃描電子顯微鏡技術參數
場發射掃描電子顯微鏡可對金屬、陶瓷、礦物、巖石、生物等樣品以及各種固體材料進行觀察和分析研究。具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子象、反射電子象觀察及圖像處理。本文主要為大家介紹一下場發射掃描電子顯微鏡技術參數、主要用途及應用范圍。 ...
掃描電鏡原理及應用
3、應用在地學研究和晶體學方面使用掃描電鏡技術也能對地學問題提供更深刻的認識。例如，通過掃描電子顯微鏡對巖石樣本進行研究可以了解各種原始巖石中珍貴的化石和組織構造。作為晶體學領域的重要工具，掃描電鏡可分析材料表面形態和準確發現晶格結構。...
EBSD分析（electron backscatter diffraction）是指
EBSD是掃描電子顯微鏡（SEM）的一個標準分析附件，但大大拓寬了掃描電子顯微鏡進行微觀分析的功能。它可以與SEM的其他功能（包括EDS等配件）結合起來，原位成像、成分分析、大樣品分析、粗糙表面成像等，克服了傳統分析方法中的一些缺陷。EBSD系統主要由背散射探測器、高靈敏度CCD數字照相機、圖像采集卡、計算機分析軟件及數據庫等組成（圖7-2）。...
掃描電子顯微鏡技術原理及應用
掃描電子顯微鏡的聚焦景深是實體顯微鏡聚焦景深的50倍，比偏反光顯微鏡則大500 倍，且不受樣品大小與厚度的影響，觀察樣品時立體感強。( 2) 二次電子掃描圖像的分辨率優于100 埃，比實體顯微鏡高200 倍。可以直接觀察礦物、巖石等的表面顯微結構特征，清晰度好。( 3) 放大倍數在14 ～ 100000 倍內連續可調。...