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KS C ISO 19749-2023
納米技術——用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

Nanotechnologies — Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy

標準號: KS C ISO 19749-2023
發布: 2023年
發布單位: 韓國科技標準局
當前最新: KS C ISO 19749-2023

介紹: 該標準涉及使用掃描電子顯微鏡（SEM）來測量納米尺度下的顆粒尺寸及其形狀分布。它提供了一套詳細的指導原則，包括樣品制備、儀器設置以及數據分析方法，以確保在不同實驗室之間獲得一致和可重復的測量結果。

***此介紹可能不準確，請注意參考原文。

KS C ISO 19749-2023 中可能用到的儀器設備

掃描電鏡SEM

專題

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