納米 顯微鏡
本專題涉及納米 顯微鏡的標準有99條。
國際標準分類中，納米 顯微鏡涉及到試驗條件和規程綜合、光學和光學測量、物理學、化學、分析化學、光學設備、計量學和測量綜合、航空航天制造用材料、長度和角度測量、石蠟、瀝青材料和其他石油產品。
在中國標準分類中，納米 顯微鏡涉及到基礎標準與通用方法、基礎學科綜合、物理學與力學、光學計量、電子光學與其他物理光學儀器、化學、、稀有金屬及其合金分析方法、量具與量儀、物質成份分析儀器與環境監測儀器、醫用光學儀器設備與內窺鏡、放大鏡與顯微鏡、光學儀器綜合。
國家質檢總局，關于納米 顯微鏡的標準
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法
- GB/T 28872-2012 活細胞樣品納米結構的磁驅動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
- GB/T 34831-2017(英文版) 納米技術 貴金屬納米粒子的電子顯微鏡成像 高角度環形暗場成像方法
- GB/T 28044-2011 納米材料生物效應的透射電子顯微鏡檢測方法通則
- GB/T 30543-2014 納米技術 單壁碳納米管的透射電子顯微術表征方法
- GB/Z 21738-2008 一維納米材料的基本結構.高分辨透射電子顯微鏡檢測方法
- GB/T 22058-2008 顯微鏡.體視顯微鏡的標志
- GB/T 28873-2012 納米顆粒生物形貌效應的環境掃描電子顯微鏡檢測方法通則
- GB/T 2609-1996 顯微鏡 物鏡
- GB/T 9246-2008 顯微鏡.目鏡
- GB/T 2609-2015 顯微鏡 物鏡
- GB/T 9246-1996 顯微鏡 目鏡
- GB/T 2609-2006 顯微鏡.物鏡
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于納米 顯微鏡的標準
- GB/T 40066-2021 納米技術 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法
- GB/T 39516-2020 微納米標準樣板（幾何量）
- GB/T 36969-2018 納米技術 原子力顯微術測定納米薄膜厚度的方法
印度標準局，關于納米 顯微鏡的標準
- IS 17838-2022 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- IS 17849-2022 納米技術通過透射電子顯微鏡測量粒度和形狀分布
- IS 16410-2017 納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
丹麥標準化協會，關于納米 顯微鏡的標準
- DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- DANSK DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- DANSK DS/ISO/TS 22292:2021 納米技術 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
- DS/ISO/TS 22292:2021 納米技術 使用透射電子顯微鏡對桿狀支撐的納米物體進行 3D 圖像重建
- DS/ISO 19749:2021 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布
- DANSK DS/ISO/TS 10798:2011 納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
- DS/ISO/TS 10798:2011 納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
- DANSK DS/ISO 19749:2021 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- DANSK DS/ISO 21363:2020 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- DANSK DS/EN ISO 19749:2023 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量粒度和形狀分布 (ISO 19749:2021)
- DANSK DS/EN ISO 21363:2022 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量粒度和形狀分布（ISO 21363:2020）
英國標準學會，關于納米 顯微鏡的標準
- BS PD ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- PD ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- PD ISO/TS 22292:2021 納米技術 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
- BS ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- BS PD ISO/TS 22292:2021 納米技術 利用透射電子顯微鏡重建桿支撐納米物體的三維圖像
- BS 7012-16:1997 光學顯微鏡 鏡筒長度為160毫米的顯微鏡可互換目鏡直徑
- BS PD IEC TS 62607-9-1:2021 納米制造 關鍵控制特性 可追蹤的空間分辨納米級雜散磁場測量 磁力顯微鏡
- PD IEC TS 62607-9-1:2021 納米制造 關鍵控制特性 可追蹤的空間分辨納米級雜散磁場測量 磁力顯微鏡
- DD ISO/TS 10798:2011 納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管
- BS ISO 19749:2021 納米技術 用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- BS EN ISO 19749:2023 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- BS EN ISO 21363:2022 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 21363:2020 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- BS ISO 10934:2020 顯微鏡 光學顯微鏡詞匯
- BS ISO 8036:2015 顯微鏡 光學顯微鏡用浸液
- BS ISO 19012-2:2010 顯微鏡 顯微鏡物鏡名稱 色彩校正
- BS ISO 19012-2:2013 顯微鏡.顯微鏡物鏡名稱.色彩校正
- BS ISO 19012-4:2024 顯微鏡 顯微鏡物鏡標識 偏振特性
- BS 7012-10.2:1997 光學顯微鏡.立體顯微鏡最低要求.高性能顯微鏡
法國標準化協會，關于納米 顯微鏡的標準
- FD T16-209:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布
- NF T16-404:2020 納米技術. 通過透射電子顯微鏡測量粒度和形狀分布
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布
- FD T16-203:2011 納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管
- NF EN ISO 21363:2022 納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測定顆粒尺寸和形狀分布
- NF EN ISO 19749:2023 納米技術 - 通過掃描電子顯微鏡測定顆粒尺寸和形狀分布
韓國科技標準局，關于納米 顯微鏡的標準
- KS D 2716-2008(2018) 納米顆粒直徑的測量－透射電子顯微鏡
- KS D 2716-2023 納米顆粒直徑的測量-透射電子顯微鏡
- KS D 2716-2008 納米粒子的直徑測量技術.透射電子顯微鏡
- KS C ISO 21363-2023 納米技術——用透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- KS C ISO 19749-2023 納米技術——用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
國際標準化組織，關于納米 顯微鏡的標準
- ISO TS 10797:2012 納米技術.使用透射電子顯微鏡對單壁碳納米管進行表征
- ISO/TS 10797:2012 納米技術.利用透射電子顯微鏡法進行單壁碳納米管特征探測
- ISO/TS 22292:2021 納米技術.用透射電子顯微鏡重建棒支撐納米物體的三維圖像
- ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 用透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- ISO TS 22292:2021 納米技術——使用透射電子顯微鏡對棒支撐的納米物體進行3D圖像重建
- ISO 21363:2020 納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測定粒度分布的方案
- ISO 19749:2021 納米技術.用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- ISO 8036:2015 顯微鏡.光學顯微鏡浸液
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于納米 顯微鏡的標準
- GB/T 34831-2017 納米技術 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環形暗場法
- GB/T 33714-2017 納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術
- GB/T 34168-2017 金、銀納米顆粒材料生物效應的透射電子顯微鏡檢測方法
中國團體標準，關于納米 顯微鏡的標準
- T/CSP 13-2024 顆粒技術 微納米異質結構分析 透射電子顯微鏡法
- T/BSPT 6-2024 顆粒技術 微納米異質結構分析 透射電子顯微鏡法
- T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測量 原子力顯微鏡法
美國材料與試驗協會，關于納米 顯微鏡的標準
- ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標準指南
PH-BPS，關于納米 顯微鏡的標準
- PNS ISO 21363:2021 納米技術.用透射電子顯微鏡測量粒度和形狀分布
歐洲標準化委員會，關于納米 顯微鏡的標準
- EN ISO 21363:2022 納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測定粒度分布的方案
- EN ISO 19749:2023 納米技術.用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- prEN ISO 21363:2021 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）
俄羅斯標準局，關于納米 顯微鏡的標準
- PNST 508-2020 納米技術 單壁碳納米管 通過掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法表征
- PNST 507-2020 納米技術 單壁碳納米管 使用透射電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法進行表征
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于納米 顯微鏡的標準
- GSO ISO 19749:2024 納米技術 通過電子顯微鏡測量顆粒的尺寸和形狀分布
- GSO ISO 13095:2015 表面化學分析 原子力顯微鏡 用于納米結構測量的原子力顯微鏡探針卡盤的原位表征程序
德國標準化學會，關于納米 顯微鏡的標準
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進行粒子測量的準備和評估方法
- DIN EN ISO 21363:2022 納米技術 – 使用透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和顆粒形狀分布
西班牙標準化協會，關于納米 顯微鏡的標準
- UNE-EN ISO 21363:2022 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- UNE-EN ISO 19749:2023 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
意大利統一標準化組織，關于納米 顯微鏡的標準
- UNI EN ISO 21363:2022 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
- UNI EN ISO 19749:2023 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布
AT-ON，關于納米 顯微鏡的標準
- OENORM EN ISO 21363:2021 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）
瑞典標準研究所，關于納米 顯微鏡的標準
- SS-EN ISO 19749:2023 納米技術 掃描電子顯微鏡測定顆粒大小和形貌分布（ISO 19749:2021）
日本工業標準調查會，關于納米 顯微鏡的標準
- JIS K 2400:2010 顯微鏡.光學顯微鏡浸液
- JIS B 7148:1992 顯微鏡目鏡
挪威標準，關于納米 顯微鏡的標準
- NS-EN ISO 19749:2023 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量粒度和形狀分布（ISO 19749:2021）
- NS-EN ISO 21363:2022 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量粒度和形狀分布（ISO 21363:2020）
國際電工委員會，關于納米 顯微鏡的標準
- IEC TS 62607-9-1:2021 納米制造.關鍵控制特性.第9-1部分:可追蹤的空間分辨納米級雜散磁場測量.磁力顯微鏡
