原子力顯微鏡 納米片
本專題涉及原子力顯微鏡 納米片的標準有36條。
國際標準分類中，原子力顯微鏡 納米片涉及到航空航天制造用材料、分析化學、光學和光學測量、試驗條件和規程綜合、長度和角度測量、物理學、化學、光學設備。
在中國標準分類中，原子力顯微鏡 納米片涉及到基礎學科綜合、基礎標準與通用方法、物理學與力學、光學計量、稀有金屬及其合金分析方法、電子光學與其他物理光學儀器、化學。
美國材料與試驗協會，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標準指南
- ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級對原子力顯微鏡進行次納米位移級的Z倍率校準的標準規程
GSO，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- GSO ISO 13095:2015 表面化學分析 原子力顯微鏡 用于納米結構測量的原子力顯微鏡探針卡盤的原位表征程序
- BH GSO ISO 13095:2017 表面化學分析 原子力顯微鏡 用于納米結構測量的 AFM 探針柄輪廓的原位表征程序
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- GB/T 40066-2021 納米技術 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法
- GB/T 36969-2018 納米技術 原子力顯微術測定納米薄膜厚度的方法
- GB/T 40128-2021 表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- GB/T 33714-2017 納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術
- GB/T 34831-2017 納米技術 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環形暗場法
德國標準化學會，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進行粒子測量的準備和評估方法
丹麥標準化協會，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
國家質檢總局，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法
- GB/T 28872-2012 活細胞樣品納米結構的磁驅動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
- GB/T 34831-2017(英文版) 納米技術 貴金屬納米粒子的電子顯微鏡成像 高角度環形暗場成像方法
英國標準學會，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- PD ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- BS ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- PD ISO/TS 22292:2021 納米技術 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
- BS PD ISO/TS 22292:2021 納米技術 利用透射電子顯微鏡重建桿支撐納米物體的三維圖像
- BS ISO 23729:2022 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
- BS ISO 13095:2014 表面化學分析. 原子力顯微鏡學. 納米結構測量用AFM探針柄輪廓的現場鑒定程序
法國標準化協會，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- FD T16-209:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
SCC，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- DANSK DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- BS PD ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- DANSK DS/ISO/TS 22292:2021 納米技術 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
韓國科技標準局，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- KS D 2716-2008(2018) 納米顆粒直徑的測量－透射電子顯微鏡
- KS D 2716-2008 納米粒子的直徑測量技術.透射電子顯微鏡
KR-KS，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- KS D 2716-2023 納米顆粒直徑的測量-透射電子顯微鏡
國際電工委員會，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- ISO TS 10797:2012 納米技術.使用透射電子顯微鏡對單壁碳納米管進行表征
- ISO TS 22292:2021 納米技術——使用透射電子顯微鏡對棒支撐的納米物體進行3D圖像重建
國際標準化組織，關于原子力顯微鏡 納米片的標準
- ISO 19214:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 用透射電子顯微鏡測定納米晶體表觀生長方向的方法
- ISO/TS 10797:2012 納米技術.利用透射電子顯微鏡法進行單壁碳納米管特征探測
- ISO/TS 22292:2021 納米技術.用透射電子顯微鏡重建棒支撐納米物體的三維圖像
- ISO 23729:2022 表面化學分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復程序指南
- ISO 13095:2014 表面化學分析. 原子力顯微鏡學. 納米結構測量用AFM探針柄輪廓的現場鑒定程序
