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這些基礎標準對于進一步推進研究和開發是必要的，最終目標是釋放納米技術的巨大潛力，以解決世界面臨的最緊迫挑戰。”本標準作為ISO 21363《納米技術——通過透射電子顯微鏡測量顆粒大小和形狀分布》的配套文件，于2020年出版，由已故的埃里克·格魯克（Eric Grulke）博士牽頭制定。...
是一種最基本也是最實際的測量方法，常被用來作為對其他測量方法的校驗和標定。但這類儀器價格昂貴，試樣制備繁瑣，測量時間長，若僅測試顆粒的粒徑，一般不采用此方法。但若既需要了解顆粒的大小還需要了解顆粒的形狀、結構狀況以及表面形貌時，該方法則是最佳的測試方法。其中較為常用的有SEM（掃描電子顯微鏡）、TEM（透射電子顯微鏡）和AFM（原子力顯微鏡）。...
當小晶體的尺寸和形狀基本一致時，計算結果比較可靠。但一般粉末試樣的具體大小都有一定的分布，謝樂的微晶尺度計算公式需修正，否則只能是近似結果。X射線衍射法是非破壞性檢測方法，測量的準確度還與樣品內部應力大小有關。 透射電子顯微鏡法是通過納米粒子在照片上的投影來直接反映顆粒的形貌與尺寸，故此法的優點是可直接觀察形貌和測定粒徑大小，具有一定的直觀性與可信性。...
TEM：透射電子顯微鏡法是通過納米粒子在照片上的投影來直接反映顆粒的形貌與尺寸，故此法的優點是可直接觀察形貌和測定粒徑大小，具有一定的直觀性與可信性。但是該法是對局部區域觀察的結果，所以有一定的偶然性及統計誤差，需要通過多幅照片利用一定數量粒子粒徑測量統計分析得到納米粒子的平均粒徑。...
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