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  • NS-EN ISO 21363:2022
    納米技術 通過透射電子顯微鏡測量粒度和形狀分布(ISO 21363:2020)

    Nanotechnologies - Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy (ISO 21363:2020)


    標準號
    NS-EN ISO 21363:2022
    發布
    2022年
    發布單位
    挪威標準
    當前最新
    NS-EN ISO 21363:2022
     
     
    適用范圍
    ADOPTED_FROM:EN ISO 21363:2022 本文件規定了如何捕獲、測量和分析透射電子顯微鏡圖像以獲得納米級的粒度和形狀分布。本文件廣泛適用于納米物體以及尺寸大于 100 納米的粒子。該方法的確切工作范圍取決于所需的不確定度和透射電子顯微鏡的性能。這些元素可以根據本文件中描述的要求進行評估。

    專題


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