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  • SS-EN ISO 19749:2023
    納米技術 掃描電子顯微鏡測定顆粒大小和形貌分布(ISO 19749:2021)

    Nanotechnologies - Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy (ISO 19749:2021)


    標準號
    SS-EN ISO 19749:2023
    總頁數
    11頁
    發布單位
    瑞典標準研究所
    當前最新
    SS-EN ISO 19749:2023
     
     
    適用范圍
    該文件規定了通過獲取和評估掃描電子顯微鏡圖像來確定納米顆粒尺寸和形狀分布的方法,并且可以獲得和報告準確的結果。該文件適用于具有下限大小(取決于所需的不確定度以及掃描電子顯微鏡的合適性能,后者需要首先證明)的顆粒。該文件還適用于基于SEM的比納米尺度更大的顆粒的尺寸和形狀測量。

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    頁面更新時間: 2025-03-21 16:06

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