便攜式掃描電子顯微鏡
本專題涉及便攜式掃描電子顯微鏡的標準有116條。
國際標準分類中，便攜式掃描電子顯微鏡涉及到光學設備、分析化學、光學和光學測量、詞匯、建筑材料、教育、有色金屬、長度和角度測量、空氣質量、犯罪行為防范、熱力學和溫度測量、采礦設備、表面處理和鍍涂、電子顯示器件。
在中國標準分類中，便攜式掃描電子顯微鏡涉及到電子光學與其他物理光學儀器、電磁計量、基礎標準與通用方法、技術管理、檢驗專用設備、教學專用儀器、化學計量、記錄儀器及光線示波器、光學設備、教育、學位、學銜、石油地質勘探、石油勘探、開發與集輸工程綜合、放大鏡與顯微鏡、、犯罪鑒定技術、材料防護、油頁巖、物理學與力學、混凝土、集料、灰漿、砂漿。
國際標準化組織，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- ISO 22493:2014 微束分析. 掃描電子顯微術. 詞匯
- ISO/TS 24597:2011 微光束分析.掃描電子顯微鏡檢查法.圖像清晰度評價法
- ISO 21466:2019 微束分析.掃描電子顯微鏡.用CD-SEM評定臨界尺寸的方法
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用電掃描探針顯微鏡對半導體器件中載流子濃度進行實驗量化的指南
日本工業標準調查會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準圖像放大指南
英國標準學會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準指南
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 21466:2019 微束分析 掃描電子顯微鏡 CDSEM評估關鍵尺寸的方法
- BS ISO 16700:2016 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準圖像放大率的指南
- BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 9220:1995 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- BS ISO 22493:2014 微束分析. 掃描電子顯微術. 詞匯
國家計量檢定規程，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規程
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
國家計量技術規范，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范
- JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準規范
行業標準-機械，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
韓國科技標準局，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
- KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側向力顯微鏡法
- KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡 側向力顯微鏡方法
- KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－掃描電子顯微鏡－圖像放大率校準指南
- KS D ISO 16700-2023 微束分析掃描電子顯微鏡圖像放大率校準指南
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
GSO，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區電子衍射分析
- GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 圖像清晰度評價方法
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- OS GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 評估圖像清晰度的方法
行業標準-教育，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
- JY/T 0582-2020 掃描探針顯微鏡分析方法通則
SCC，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準標準
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- 08/30138435 DC BS ISO 24597 微束分析 掃描電子顯微鏡 圖像清晰度評估方法
美國給水工程協會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評估膜表面污染模式
美國材料與試驗協會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- ASTM E766-98(2003) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E766-98 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的標準指南
- ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準的標準方法
- ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數的標準校正規范
- ASTM C1723-16 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標準指南
- ASTM C1723-10 用掃描電子顯微鏡檢驗硬化混凝土的標準指南
- ASTM C1723-16(2022) 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標準指南
- ASTM E766-14(2019) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數的標準實施規程
上海市標準，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法
國家能源局，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
行業標準-石油，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
法國標準化協會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 掃描電子顯微鏡 評價圖像清晰度的方法
- XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 - 掃描電子顯微鏡 - 評估圖像清晰度的方法
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- NF EN ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF X21-010:2009 微光束分析.掃描電子顯微術.詞匯
中國團體標準，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- T/SPSTS 032-2023 掃描電化學顯微鏡通用規范
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
- T/SPSTS 030-2023 石墨烯材料 片徑尺寸測量 掃描電子顯微鏡法
行業標準-司法，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- SF/T 0139-2023 泥土檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
TIA - Telecommunications Industry Association，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- TIA-573C000-1998 現場便攜式光學顯微鏡分規范
- TIA/EIA-573CA00-1998 現場便攜式光學顯微鏡的空白詳細規范
行業標準-商品檢驗，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學顯微鏡法
江蘇省標準，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微區覆蓋度測試 掃描電子顯微鏡法
臺灣地方標準，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- CNS 6600-1980 測定巖粉率用便攜式偏光顯微鏡
VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- VDI 3866 Blatt 5-2003 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 BLATT 5-2015 技術產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
丹麥標準化協會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- DANSK DS/EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
俄羅斯標準局，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- GOST R 8.594-2009 確保測量一致性的國家體系.掃描電子顯微鏡
國家質檢總局，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- GB/T 18295-2001 油氣儲層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法
- GB/T 23414-2009 微束分析.掃描電子顯微術.術語
SE-SIS，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
- SIS SS CECC 00013-1985 基本規范．半導體芯片的掃描電子顯微鏡觀察
歐洲標準化委員會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
德國標準化學會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進行粒子測量的準備和評估方法
西班牙標準化協會，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡方法
行業標準-公共安全標準，關于便攜式掃描電子顯微鏡的標準
- GA/T 1939-2021 法庭科學 電流斑檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1938-2021 法庭科學 金屬檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
- GA/T 1937-2021 法庭科學 橡膠檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
