x射線 分子 光譜
本專題涉及x射線 分子 光譜的標準有305條。
國際標準分類中，x射線 分子 光譜涉及到分析化學、光學和光學測量、黑色金屬、詞匯、鋼鐵產品、建筑材料、金屬礦、無損檢測、金屬材料試驗、有色金屬、耐火材料、鐵合金、核能工程、長度和角度測量、廢物、食用油和脂肪、含油種子、食品試驗和分析的一般方法、電站綜合、涂料配料、電子元器件綜合、燃料、電學、磁學、電和磁的測量、土質、土壤學、教育、計量學和測量綜合、半導體材料、醫學科學和保健裝置綜合、醫療設備、表面處理和鍍涂、金屬的腐蝕、犯罪行為防范、石油產品綜合、采礦設備、珠寶、藝術和手工藝品、飼料、非金屬礦、電子管、化工產品、無機化學。
在中國標準分類中，x射線 分子 光譜涉及到質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯用裝置、基礎標準與通用方法、電子光學與其他物理光學儀器、鋼鐵與鐵合金分析方法、鐵礦、金屬化學分析方法綜合、化學、耐火材料綜合、同位素與放射源綜合、輕金屬及其合金分析方法、建材產品綜合、稀有輕金屬及其合金、光學測試儀器、石油地質勘探、重金屬及其合金分析方法、、稀有金屬及其合金分析方法、鋼鐵產品綜合、油料作物與產品、電力試驗技術、鐵合金、涂料基礎標準與通用方法、電離輻射計量、有色金屬礦綜合、金屬無損檢驗方法、標準化、質量管理、焦炭、半金屬及半導體材料分析方法、電子測量與儀器綜合、教學專用儀器、光學計量儀器、化學計量、不定型耐火材料、定型隔熱耐火材料、燃料油、電化學、熱化學、光學式分析儀器、犯罪鑒定技術、石油產品綜合、建井設備、工藝美術品、電子元件綜合、貴金屬及其合金分析方法、物理學與力學、其他電真空器件、催化劑基礎標準與通用方法、材料防護、有色金屬及其合金產品綜合、建材原料礦、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器。
英國標準學會，關于x射線 分子 光譜的標準
- BS ISO 16129:2012 表面化學分析.X射線光電子能光譜學.X射線光電子能譜儀日常性能評估規程
- BS ISO 16129:2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- BS ISO 10810:2019 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南
- BS ISO 18516:2006 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
- BS ISO 10810:2010 表面化學分析.X射線光電子能譜法.分析指南
- BS ISO 21270:2005 表面化學分析.X射線光電子和俄歇電子光譜儀.強度標的線性度
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度線性度
- BS ISO 18554:2016 表面化學分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
- BS ISO 21270:2004 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度尺度的線性
- BS EN ISO 9167-2:1997(1999) 油菜籽 芥子油苷含量的測定 第2部分：X射線熒光光譜法
- BS ISO 19830:2015 表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報告要求
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測定
- BS ISO 14701:2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度的測量
- BS ISO 13424:2013 表面化學分析.X射線光譜.薄膜分析報表
- BS ISO 14701:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜學.二氧化硅厚度測量
- BS ISO 16243:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜術(XPS)的記錄和報告數據
- BS ISO 24237:2005 表面化學分析.X射線光電子光譜學.強度標的可重復性和穩定性
- PD ISO/TR 16043:2015 鐵礦石 氯含量的測定 X射線熒光光譜法
德國標準化學會，關于x射線 分子 光譜的標準
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化學分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- DIN 51418-1:1996 X光射線光譜測定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理
- DIN 51418-1:2008 X射線光譜測定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理
- DIN ISO 16129:2020 表面化學分析. X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN 51418-1:2008-08 射線光譜測定 X 射線發射和 X 射線熒光分析(XRF)第1部分：定義和基本原理
- DIN 51418-2:2015 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準及評估的基本原則
- DIN 51418-2:1996 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準及評估的基本原則
- DIN 51418-2:2015-03 X 射線光譜測定 X 射線發射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測量、校準和結果評估的定義和基本原則
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化學分析 - X 射線光電子能譜儀 - 能量標度校準 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀 能標校準（ISO 15472:2010）；英文文本
國際標準化組織，關于x射線 分子 光譜的標準
- ISO 16129:2012 表面化學分析.X射線光電子能光譜學.X射線光電子能譜儀日常性能評估規程
- ISO 16129:2018 表面化學分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
- ISO 10810:2019 表面化學分析 - X射線光電子能譜分析指南
- ISO 18516:2006 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.橫向分辨率測定
- ISO 10810:2010 表面化學分析.X射線光電子能譜學.分析導則
- ISO/TR 18392:2005 表面化學分析.X射線光電子光譜學.背景測定程序
- ISO 21270:2004 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強度標的線性
- ISO 18554:2016 表面化學分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化學分析 X 射線光電子能譜 確定背景的程序
- ISO 9167-2:1994 菜籽 芥子油甙含量的測定 第2部分:用X-射線熒光光譜法
- ISO 19830:2015 表面化學分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報告要求
- ISO 13424:2013 表面化學分析——X射線光電子能譜；薄膜分析結果的報告
- ISO 14701:2018 表面化學分析 - X射線光電子能譜 - 氧化硅厚度的測量
- ISO 24237:2005 表面化學分析.X射線光電子光譜法.強度的可重復性和穩定性
- ISO 14701:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜.二氧化硅厚度的測量
- ISO 16243:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜術(XPS)的記錄和報告數據
- ISO 15470:2017 表面化學分析. X射線光電子能譜. 選擇儀器性能參數說明
- ISO/TR 16043:2015 鐵礦石. 氯含量的測定. X射線熒光光譜法
- ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質量點的指南
GSO，關于x射線 分子 光譜的標準
- BH GSO ISO 16129:2015 表面化學分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
- OS GSO ISO 16129:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
- GSO ISO 10810:2013 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析說明
- OS GSO ISO 10810:2013 表面化學分析X射線光電子能譜分析指南
- BH GSO ISO 10810:2016 表面化學分析X射線光電子能譜分析指南
- GSO ISO 16129:2014 表面化學分析 納米 X 射線光譜 評估納米 X 射線光譜日常性能的程序
- GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- BH GSO ISO 21270:2016 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- OS GSO ISO 21270:2014 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標度的線性
- OS GSO ISO 13424:2015 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果報告
- OS GSO ISO 18554:2017 表面化學分析 電子能譜 在接受X射線光電子能譜分析的材料中識別、估計和校正X射線意外降解的程序
- BH GSO ISO 13424:2017 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果報告
- GSO ISO 14701:2013 表面化學分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度測量
- GSO ISO 18554:2017 表面化學分析 電子能譜 在接受X射線光電子能譜分析的材料中識別、估計和校正X射線意外降解的程序
- OS GSO ISO 18516:2013 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- GSO ISO/TR 18392:2013 表面化學分析 X射線光電子能譜 確定背景的程序
- GSO ISO 13424:2015 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果報告
- BH GSO ISO 18516:2016 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- GSO ISO 18516:2013 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- BH GSO ISO 19830:2017 表面化學分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合的最低報告要求
- GSO ISO 19830:2016 表面化學分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合的最低報告要求
- BH GSO ISO 15472:2016 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標度的校準
- GSO ISO 15472:2013 表面化學分析 X射線光譜 能量計校準
- OS GSO ISO 16243:2015 表面化學分析 在 X 射線光電子能譜 (XPS) 中記錄和報告數據
- BH GSO ISO 16243:2017 表面化學分析 在 X 射線光電子能譜 (XPS) 中記錄和報告數據
- GSO ISO 16243:2015 表面化學分析 在 X 射線光電子能譜 (XPS) 中記錄和報告數據
- DL/T 1151.22-2023 火力發電廠垢和腐蝕產物分析方法 第22部分：波長色散X射線熒光光譜法和X射線衍射法
- BH GSO ISO 17470:2017 微束分析 電子探針微量分析 波長色散X射線光譜定性點分析指南
- GSO ISO 24237:2013 表面化學分析 X射線光電子能譜 強度標度的重復性和穩定性
- GSO ISO 15470:2013 表面化學分析 X射線光電子能譜 有用性能參數的描述和選擇
- GSO ISO 3497:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 X射線光譜法
未注明發布機構，關于x射線 分子 光譜的標準
- DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化學分析 X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序
- DIN ISO 15472 E:2019-09 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀 能標校準
- AS ISO 15470:2006(R2016) 表面化學分析 X射線光電子光譜法 選定儀器性能參數的描述
- AS 2563:1996(R2016) 波長色散X射線熒光光譜儀 精度測定
- DIN 51418-2 E:2014-06 Ｘ射線光譜測定 X 射線發射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測量、校準和結果評估的定義和基本原則
- AS ISO 24237:2006(R2016) 表面化學分析 X射線光電子光譜學 強度標的可重復性和恒定性
- DIN EN ISO 8754:1995 石油產品 硫含量的測定 能量分散X射線熒光光譜法
國家質檢總局，關于x射線 分子 光譜的標準
- GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
- GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀鑒定方法
- GB/T 30704-2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南
- GB/T 21006-2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性
- GB/T 42360-2023 表面化學分析 水的全反射X射線熒光光譜分析
- GB/T 28632-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
- GB/Z 32490-2016 表面化學分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序
- GB/T 22571-2008 表面化學分析.X射線光電子能譜儀.能量標尺的校準
- GB/T 16597-1996 冶金產品分析方法 X射線熒光光譜法通則
- GB/Z 42520-2023 鐵礦石X射線熒光光譜分析實驗室操作指南
- GB/T 8925-1988 汽油鉛含量測定法(X射線光譜法)
- GB/T 28020-2011 飾品.有害元素的測定.X射線熒光光譜法
- GB/T 6730.88-2024 鐵礦石 氯含量的測定 X射線熒光光譜法
- GB/T 33352-2024 電子電氣產品中限用物質篩選應用通則 X射線熒光光譜法
- GB/T 28892-2012 表面化學分析.X射線光電子能譜.選擇儀器性能參數的表述
- GB/T 28892-2024 表面化學分析 X射線光電子能譜 選擇儀器性能參數的表述
- GB/T 28633-2012 表面化學分析.X射線光電子能譜.強度標的重復性和一致性
- GB/T 21114-2007 耐火材料 X射線熒光光譜化學分析 - 熔鑄玻璃片法
- GB/T 29513-2013 含鐵塵泥 X射線熒光光譜化學分析 熔鑄玻璃片法
- GB/T 18043-2008 首飾.貴金屬含量的測定.X射線熒光光譜法
- GB/T 18043-2013 首飾 貴金屬含量的測定 X射線熒光光譜法
- GB/T 16921-1997 金屬覆蓋層 厚度測量 X射線光譜方法
- GB/T 8156.10-1987 工業用氟化鋁中硫量的測定 X射線熒光光譜分析法
SCC，關于x射線 分子 光譜的標準
- 11/30230635 DC BS ISO 16129 表面化學分析 X射線光電子能譜法 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- DIN 51418-1 E:2007 X 射線光譜測定 X 射線發射和 X 射線熒光分析 (XRF) 第1部分：定義和基本原理 草案
- DIN ISO 16129 E:2020 文件草案 表面化學分析 X 射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序（ISO 16129:2018） 英文文本
- 09/30191895 DC BS ISO 10810 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南
- BS EN ISO 9167-2:1997 油菜籽 芥子油苷含量的測定 X射線熒光光譜法
- DIN 51418-2 E:2014 X 射線光譜測定 X 射線發射和 X 射線熒光分析 (XRF) 第2部分：測量、校準和結果評估的定義和基本原則 草案
- BS ISO 15472:2001 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標度的校準
- SPC GB/T 16597-2019 冶金產品分析方法 X射線熒光光譜法通則
- ISO 15472:2001/DAmd 1 表面化學分析 X 射線光電子能譜儀 能量校準 修改件1
- AWWA 51768 利用 X 射線光電子能譜法識別低壓反滲透膜失效
- 10/30212265 DC BS ISO 14701 表面化學分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度測量
- BS PD ISO/TR 16043:2015 鐵礦石 氯含量的測定 X射線熒光光譜法
- AENOR UNE-EN ISO 9167-2:1998 油菜籽 芥子油苷含量的測定 第2部分：X 射線熒光光譜法（ISO 9167-2:194）
- BS ISO 17470:2004 微束分析 電子探針微分析 波長色散X射線光譜定性點分析指南
- BS ISO 15470:2004 表面化學分析 X射線光電子能譜 所選儀器性能參數的描述
- 10/30199175 DC BS ISO 16243 表面化學分析 X射線光電子能譜（XPS）數據的記錄和報告
- CEI 45-35:1997 半導體X射線光譜儀標準化測試方法
行業標準-機械，關于x射線 分子 光譜的標準
- JB/T 11145-2011 X射線熒光光譜儀
行業標準-農業，關于x射線 分子 光譜的標準
- 58藥典 四部-2020 0461 X射線熒光光譜法
- 784獸藥典 一部-2015 附錄目次0400 光譜法0451 X射線衍射法
- JJG(教委) 016-1996 波長色散型X射線熒光光譜儀檢定規程
日本工業標準調查會，關于x射線 分子 光譜的標準
- JIS G 1256:1997 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法
- JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
- JIS R 2216:2005 耐火制品X射線熒光光譜分析法
- JIS G 1256 AMD 1:2010 鋼鐵.X射線熒光光譜測定分析方法
- JIS K 0119:2008 X射線熒光光譜測定法總則
- JIS K 0119:1997 X射線熒光光譜測定法總則
- JIS G 1351:2006 鐵合金.X-射線熒光光譜測定分析法
- JIS H 1631:2008 鈦合金.X射線熒光光譜測定分析法
- JIS H 1292:1997 銅和銅合金的X射線熒光光譜分析法
- JIS H 1287:2015 鎳和鎳合金. X射線熒光光譜分析方法
- JIS G 1256 AMD 2:2013 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法(修改件2)
- JIS G 1351:1987 鐵合金的X射線熒光光譜測定分析方法
- JIS H 1669:1990 鋯合金的X射線熒光光譜測定分析方法
- JIS R 2216:1995 耐火磚和耐火灰漿X射線熒光光譜分析方法
- JIS T 0306:2002 用X射線光電子光譜法分析金屬生物材料形成的無源膜的狀態
- JIS K 0152:2014 表面化學分析. X射線光電子能譜分析. 強度標的重復性和一致性
- JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對質量點分析用指南
美國材料與試驗協會，關于x射線 分子 光譜的標準
- ASTM E1621-21 X射線發射光譜分析標準指南
- ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數據報告的標準規程
- ASTM E995-16 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜背景減法技術標準指南
- ASTM E1621-05 X射線發散光譜分析標準指南
- ASTM E996-04 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM E996-10 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM D5381-93(2003) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
- ASTM D5381-93(1998) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
- ASTM E1085-95(2000) 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗方法
- ASTM E1085-95(2004) 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗方法
- ASTM E1085-95(2004)e1 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗方法
- ASTM E995-04 螺旋電子光譜法和X射線光電光譜法中減去背景技術的標準指南
- ASTM E572-02a(2006) 不銹鋼X射線發射光譜分析的標準試驗方法
- ASTM E572-02a 不銹鋼X射線發射光譜分析的標準試驗方法
- ASTM E1361-90(1999) X射線光譜分析中入射效應校正的標準指南
- ASTM E902-05 檢查X射線光電子光譜儀的操作特性的標準實施規程
- ASTM E572-02a(2006)e1 不銹鋼X射線發射光譜分析的標準試驗方法
- ASTM E572-94(2000) 不銹鋼X射線發射光譜分析的標準試驗方法
- ASTM E996-19 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規程
- ASTM E1361-02(2021) X射線光譜分析中入射效應校正的標準指南
- ASTM E572-94(2000)e1 不銹鋼X射線發射光譜分析的標準試驗方法
- ASTM E2108-16 X射線光電子能譜儀的電子結合能量標尺的標準實踐
- ASTM E996-10(2018) 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規程
- ASTM E2735-13 X射線光電子光譜法 (XPS) 試驗所需校準選擇的標準指南
- ASTM E2735-14 選擇X射線光電子光譜40;XPS41試驗所需校準的標準指南
- ASTM E1588-10e1 掃描電子顯微術/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標準指南
- ASTM E2735-14(2020) 用于選擇X射線光電子能譜所需校準的標準指南
- ASTM E322-96e1 低合金鋼和鑄鐵的X射線發射光譜測定分析法
- ASTM E902-94(1999) 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標準實施規程
- ASTM E1621-13 波長色散X射線熒光光譜法元素分析的標準指南
- ASTM E995-11 在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應用背景消除技術的標準指南
- ASTM E1217-11 用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號樣品面積的標準操作規程
- ASTM C1271-99(2020) 石灰石灰石X射線光譜分析的標準測試方法
- ASTM E2465-19 用X射線熒光光譜法分析鎳基合金的標準試驗方法
- ASTM E1217-00 用X射線光電子光譜儀和俄歇電子光譜儀測定影響檢測信號的樣品面積的標準實施規范
- ASTM E1085-09 用X 射線熒光光譜法分析低合金鋼的標準試驗方法
- ASTM E539-11 利用 X 射線熒光光譜法分析鈦合金的標準試驗方法
- ASTM C1271-99 石灰石灰石X射線光譜分析的標準測試方法
韓國科技標準局，關于x射線 分子 光譜的標準
- KS D 1654-2003(2016) 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 1654-2021 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 1654-1993 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 2710-2019 鈮鐵的X射線熒光光譜分析法
- KS D 1655-1993 鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1898-2019 銅合金的X射線熒光光譜法分析
- KS M 0017-2020 X射線熒光光譜分析的一般規則
- KS M 0017-1995 X射線熒光光譜分析的一般規則
- KS D 1655-2019 鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-1998 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-1988 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
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RU-GOST R，關于x射線 分子 光譜的標準
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行業標準-黑色冶金，關于x射線 分子 光譜的標準
- YB/T 4177-2008 爐渣 X射線熒光光譜分析方法
法國標準化協會，關于x射線 分子 光譜的標準
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- NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測量法定量分析指南
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- XP A06-379-1999 波長散射性X射線熒光光譜分析的標準常規用法的制定指南
行業標準-核工業，關于x射線 分子 光譜的標準
- EJ/T 805-1993 X射線熒光分析用低能光子源
行業標準-有色金屬，關于x射線 分子 光譜的標準
- YS/T 739-2010 鋁電解質分子比及主要成分的測定X射線熒光光譜法
- YS/T 483-2005 銅及銅合金分析方法 X射線熒光光譜法 (波長色散型)
廣東省標準，關于x射線 分子 光譜的標準
- DB44/T 1602-2015 石材成分分析方法--X射線熒光光譜法
- DB44/T 1826-2016 合金飾品成分的測定 能量色散X射線熒光光譜法
澳大利亞標準協會，關于x射線 分子 光譜的標準
- AS ISO 15472:2006 表面化學分析．X射線光電子光譜法．能量標度的校準
- AS ISO 15470:2006 表面化學分析．X射線光電子光譜法．選定儀器性能參數的描述
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- AS ISO 19318:2006 表面化學分析．X射線光電子光譜學．電荷控制和電荷調整用報告法
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- AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 重礦砂 波長色散 X 射線熒光光譜法分析 含鈦礦砂
- AS 4392.2:1997 重礦砂．波長色散X射線熒光光譜法分析．誥石材料
國家能源局，關于x射線 分子 光譜的標準
- SY/T 7420-2018 X射線熒光光譜元素錄井規范
中國團體標準，關于x射線 分子 光譜的標準
- T/CACE 064-2022 煤氣化渣成分測定 X射線熒光光譜法
- T/CAIA SH003-2015 稻米 鎘的測定 X射線熒光光譜法
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行業標準-電力，關于x射線 分子 光譜的標準
- DL/T 1151.22-2012 火力發電廠垢和腐蝕產物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析
歐洲標準化委員會，關于x射線 分子 光譜的標準
- EN ISO 9167-2:1997 菜籽 芥子油甙含量的測定 第2部分:用X-射線熒光光譜法
國家計量檢定規程，關于x射線 分子 光譜的標準
- JJG(地質) 1006-1990 3080E型X射線熒光光譜儀檢定規程
- JJG 810-1993 波長色散X射線熒光光譜儀檢定規程
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線 分子 光譜的標準
- GB/T 41073-2021 表面化學分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求
- GB/T 36401-2018 表面化學分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結果的報告
- GB/T 16597-2019 冶金產品分析方法 X射線熒光光譜法通則
- GB/T 21114-2019 耐火材料 X射線熒光光譜化學分析 熔鑄玻璃片法
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線 分子 光譜的標準
- GB/T 22571-2017 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準
- GB/T 34534-2017 焦炭 灰成分含量的測定 X射線熒光光譜法
- GB/T 33352-2016 電子電氣產品中限用物質篩選應用通則 X射線熒光光譜法
行業標準-電子，關于x射線 分子 光譜的標準
- SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術和X射線光電子能譜術的樣品處理標準導則
- SJ/T 10714-1996 檢查X射線光電子能譜儀工作特性的標準方法
- SJ/Z 733-1973 X射線管系列型譜
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- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化學分析-X射線光電子能譜儀-能量刻度的校準
行業標準-商品檢驗，關于x射線 分子 光譜的標準
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IN-BIS，關于x射線 分子 光譜的標準
- IS 12803-1989 X射線熒光光譜儀分析水硬性水泥的方法
行業標準-教育，關于x射線 分子 光譜的標準
- JY/T 0569-2020 波長色散x射線熒光光譜方法通則
- JY/T 016-1996 波長色散型X射線熒光譜方法通則
SE-SIS，關于x射線 分子 光譜的標準
- SIS SS IEC 573:1986 X射線設備．X射線光電圖象增強器轉換因子測量
國家計量技術規范，關于x射線 分子 光譜的標準
- JJF 1133-2005 X射線熒光光譜法黃金含量分析儀校準規范
- JJF 2024-2023 能量色散X射線熒光光譜儀校準規范
VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關于x射線 分子 光譜的標準
- VDI/VDE 5575 Blatt 7-2007 X 射線光學系統 折射 X 射線光學 參數定義
- VDI/VDE 5575 Blatt 3-2009 X 射線光學系統 X 射線毛細管
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- VDI/VDE 5575 BLATT 3-2019 X 射線光學系統 毛細管 X 射線透鏡
VN-TCVN，關于x射線 分子 光譜的標準
- TCVN 6704-2008 汽油.用X射線光譜學測定中的鉛
工業和信息化部/國家能源局，關于x射線 分子 光譜的標準
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- JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀
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- JB/T 5068-1991 金屬覆蓋層厚度測量 X射線光譜法
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