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AS ISO 19318:2006
表面化學分析．X射線光電子光譜學．電荷控制和電荷調整用報告法

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction

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標準號: AS ISO 19318:2006
發布: 2006年
發布單位: 澳大利亞標準協會
當前最新: AS ISO 19318:2006

適用范圍: 采用 ISO 19318:2004 規定了描述通過 X 射線光電子能譜測量絕緣樣品芯級結合能時電荷控制和電荷校正方法的最小信息量，應重新

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