JIS K 0119:2008
X射線熒光光譜測定法總則
General rules for X-ray fluorescence analysis
- 標準號
- JIS K 0119:2008
- 發布
- 2008年
- 發布單位
- 日本工業標準調查會
- 當前最新
- JIS K 0119:2008
- 引用標準
- JIS K 0211 JIS K 0212 JIS K 0215 JIS Q 0030
- 被代替標準
- JIS K 0119:1997
- 適用范圍
- 本日本工業標準規定了使用熒光 X 射線光譜分析儀器測量樣品產生的熒光 X 射線以及對樣品中所含元素進行定性分析和定量分析的一般規則。范圍涵蓋厚度測定和繪圖分析。
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