JIS K0119-2008
X射線熒光光譜測定法總則
General rules for X-ray fluorescence analysis
- 標準號
- JIS K0119-2008
- 發布日期
- 2008年04月20日
- 實施日期
- 廢止日期
- 無
- 中國標準分類號
- A43
- 國際標準分類號
- 71.040.50
- 發布單位
- JP-JISC
- 引用標準
- JIS K0211 JIS K0212 JIS K0215 JIS Q0030
- 被代替標準
- JIS K0119-1997
- 適用范圍
- This Japanese Industrial Standard specifies general rules for the measurement of fluorescent X-ray generating from a specimen using a fluorescent X-ray spectrometric analysis instrument and for performing the qualitative analysis and the quantitative analysis of elements contained in a specimen. Scope covers the thickness determina- tion and the mapping analysis.