JIS K0119-2008
X射線熒光光譜測定法總則
General rules for X-ray fluorescence analysis
JIS K0119-2008 發布歷史
This Japanese Industrial Standard specifies general rules for the measurement of fluorescent X-ray generating from a specimen using a fluorescent X-ray spectrometric analysis instrument and for performing the qualitative analysis and the quantitative analysis of elements contained in a specimen. Scope covers the thickness determina- tion and the mapping analysis.
JIS K0119-2008由日本工業標準調查會 JP-JISC 發布于 2008-04-20。
JIS K0119-2008 在中國標準分類中歸屬于: A43 化學，在國際標準分類中歸屬于: 71.040.50 物理化學分析方法。
JIS K0119-2008 發布之時，引用了標準
- JIS K0211 分析化學用術語(總則部分)*， 2013-03-21 更新
- JIS K0212 分析化學用術語(光學部分)*， 2016-12-20 更新
- JIS K0215 分析化學用術語(分析儀器部分)*， 2016-03-22 更新
- JIS Q0030 *， 2019-01-21 更新
* 在 JIS K0119-2008 發布之后有更新，請注意新發布標準的變化。
JIS K0119-2008的歷代版本如下：
- 1997年09月20日 JIS K0119-1997 X射線熒光光譜測定法總則
- 2008年04月20日 JIS K0119-2008 X射線熒光光譜測定法總則
- 標準號
- JIS K0119-2008
- 發布日期
- 2008年04月20日
- 實施日期
- 廢止日期
- 無
- 中國標準分類號
- A43
- 國際標準分類號
- 71.040.50
- 發布單位
- JP-JISC
- 引用標準
- JIS K0211 JIS K0212 JIS K0215 JIS Q0030
- 被代替標準
- JIS K0119-1997
- 適用范圍
- This Japanese Industrial Standard specifies general rules for the measurement of fluorescent X-ray generating from a specimen using a fluorescent X-ray spectrometric analysis instrument and for performing the qualitative analysis and the quantitative analysis of elements contained in a specimen. Scope covers the thickness determina- tion and the mapping analysis.