JIS K 0119:2008
X射線熒光光譜測定法總則
General rules for X-ray fluorescence analysis
說明：
- 此圖僅顯示與當前標準最近的5級引用；
- 鼠標放置在圖上可以看到標題編號；
- 此圖可以通過鼠標滾輪放大或者縮小；
- 表示標準的節點，可以拖動；
- 綠色表示標準：JIS K 0119:2008 ， 綠色、紅色表示本平臺存在此標準，您可以下載或者購買，灰色表示平臺不存在此標準；
- 箭頭終點方向的標準引用了起點方向的標準。
- 標準號
- JIS K 0119:2008
- 發布
- 2008年
- 發布單位
- 日本工業標準調查會
- 當前最新
- JIS K 0119:2008
- 引用標準
- JIS K 0211 JIS K 0212 JIS K 0215 JIS Q 0030
- 被代替標準
- JIS K 0119:1997
- 本日本工業標準規定了使用熒光 X 射線光譜分析儀器測量樣品產生的熒光 X 射線以及對樣品中所含元素進行定性分析和定量分析的一般規則。范圍涵蓋厚度測定和繪圖分析。
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