X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子,可以測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖,從而獲得待測物組成。XPS主要應用是測定電子的結合能來實現對表面元素的定性分析,包括價態。...
可以測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關信息。X射線光電子能譜因對化學分析最有用,因此被稱為化學分析用電子能譜(Electron?Spectroscopy?for?Chemical?Analysis)。 ?????1,元素的定性分析。可以根據能譜圖中出現的特征譜線的位置鑒定除H、He以外的所有元素。 ??2,元素的定量分析。...
(1)固體表面的激發與檢測 X射線光電子能譜(XPS):激發源為X射線,用X射線作用于樣品表面,產生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜。用于研究樣品表面組成和結構。又稱為化學分析光電子能譜法(ESCA)。 紫外光電子能譜(UPS):激發源為紫外光,只能激發原子的價電子,用于量子化學研究。 俄歇電子能譜(AES):激發源為電子束,用于表面成分的快速分析。 ...
(1)固體表面的激發與檢測X射線光電子能譜(XPS):激發源為X射線,用X射線作用于樣品表面,產生光電子。通過分析光電子的能量分布得到光電子能譜。用于研究樣品表面組成和結構。又稱為化學分析光電子能譜法(ESCA)。紫外光電子能譜(UPS):激發源為紫外光,只能激發原子的價電子,用于量子化學研究。俄歇電子能譜(AES):激發源為電子束,用于表面成分的快速分析。...
Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號