GB/T 22571-2008由國家質檢總局 CN-GB 發布于 2008-12-11,并于 2009-10-01 實施,于 2018-01-01 廢止。
GB/T 22571-2008 在中國標準分類中歸屬于: G04 基礎標準與通用方法,在國際標準分類中歸屬于: 71.040.40 化學分析。
GB/T 22571-2008 表面化學分析.X射線光電子能譜儀.能量標尺的校準的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 22571-2017 。
本標準規定了一種用于一般分析目的時校準X射線電子能譜儀結合能標尺的方法,該譜儀使用非單色化Al或MgX射線或單色化AlX射線。它僅適于帶有濺射清潔用的離子槍的儀器。本標準還進一步規定了一種方法,用以建立校準程序、在中間某一能量值測試結合能標尺線性度、在高低結合能區各取一點確認標尺校準的不確定度、對標尺的小漂移作修正以及規定在95%置信度時該結合能標尺校準的擴展不確定。這個不確定度包括來自實驗室際研究中觀察到的現象的貢獻,但不涵蓋所有可能發生的缺陷。本標準不適用于有下述情況的儀器:結合能標尺的誤差隨能量明顯非線性變化、工作在固定減速比模式且減速比小于10、譜儀的分辨率差于1.5eV或者要求公差極限為±0.03eV或更小。本標準不提供全標尺校準檢驗,該檢驗要對每一個在能量標尺上能找到的點加以驗證,必須按儀器制造商的推薦程序進行。
【會議時間】2018年3月15日全天【會議地點】清華大學理科樓D203【會議日程】09:30-10:40X射線光電子能譜分析劉芬(中科院化學所)10:40-11:50XPS定量分析中的靈敏度因子吳正龍(北京師范大學)13:30-14:40X射線電子能譜的能量標尺校準謝景林(北京大學)14:40-15:50表面化學分析樣品前處理姚文清(清華大學)??儀器信息網鏈接:http://www.instrument.com.cn...
清華大學分析中心表面分析室主任姚文清致開幕詞X射線光電子能譜(XPS)被廣泛用于材料的表面分析。近十年來,我國XPS譜議數量及XPS相關的學術論文數量呈現飛躍式發展趨勢。為了幫助X射線光電子能譜儀的操作者規范地使用XPS譜儀,準確地進行典型樣品有效和有意義的XPS分析,劉芬老師對國家標準《X射線光電子能譜分析指南》進行了解讀與宣貫。...
講座時間時間:2016年12月22日 下午14:00-15:30講座內容X射線光電子能譜技術是一種重要的表面分析手段。應用范圍廣泛,可對從Li到U范圍內的元素進行研究,因而不僅被廣泛地應用于化學分析、材料開發應用研究、物理理論探討等學術領域,還被廣泛地應用于機械加工、印刷電路技術、鍍膜材料工藝控制、納米功能材料開發等工業領域。...
?第4部分:動態模擬試驗?14??GB/T?22571-2017??表面化學分析?X射線光電子能譜儀?能量標尺的校準?15??GB/T?30357.6-2017??烏龍茶?第6部分:單叢?16??GB/T?33746.2-2017??近場通信(NFC)安全技術要求?第2部分:安全機制要求?17??GB?34169-2017??商品煤質量?民用散煤?18??GB?34170-2017??商品煤質量?民用型煤...
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