【會議時間】2018年3月15日全天【會議地點】清華大學理科樓D203【會議日程】09:30-10:40X射線光電子能譜分析劉芬(中科院化學所)10:40-11:50XPS定量分析中的靈敏度因子吳正龍(北京師范大學)13:30-14:40X射線電子能譜的能量標尺校準謝景林(北京大學)14:40-15:50表面化學分析樣品前處理姚文清(清華大學)??儀器信息網鏈接:http://www.instrument.com.cn...
清華大學分析中心表面分析室主任姚文清致開幕詞X射線光電子能譜(XPS)被廣泛用于材料的表面分析。近十年來,我國XPS譜議數量及XPS相關的學術論文數量呈現飛躍式發展趨勢。為了幫助X射線光電子能譜儀的操作者規范地使用XPS譜儀,準確地進行典型樣品有效和有意義的XPS分析,劉芬老師對國家標準《X射線光電子能譜分析指南》進行了解讀與宣貫。...
講座時間時間:2016年12月22日 下午14:00-15:30講座內容X射線光電子能譜技術是一種重要的表面分析手段。應用范圍廣泛,可對從Li到U范圍內的元素進行研究,因而不僅被廣泛地應用于化學分析、材料開發應用研究、物理理論探討等學術領域,還被廣泛地應用于機械加工、印刷電路技術、鍍膜材料工藝控制、納米功能材料開發等工業領域。...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子,可以測量光電子的能量,以光電子的動能為橫坐標,相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖,從而獲得待測物組成。XPS主要應用是測定電子的結合能來實現對表面元素的定性分析,包括價態。...
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