BS ISO 14701:2018
表面化學分析 X射線光電子能譜 氧化硅厚度的測量
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
- 標準號
- BS ISO 14701:2018
- 發布
- 2018年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS ISO 14701:2018
- 引用標準
- GUM-1995 ISO 18115-1 ISO 18116 ISO/IEC GUIDE 98-3:2008 ISO/TR 18392
- 被代替標準
- BS ISO 14701:2011
專題
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