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ISO 17470:2004
微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質量點的指南

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

作廢

標準號: ISO 17470:2004
發布: 2004年
總頁數: 11頁
中文版: GB/T 20725-2006 (等同采用的中文版本)
發布單位: 國際標準化組織
替代標準: ISO 17470:2014
當前最新: ISO 17470:2014

適用范圍: 本標準是用點至探針或者掃描電鏡中的波譜儀獲得試樣特定體積內（μm尺度）的X射線譜，進行元素鑒別和確認特定元素存在的一種標準方法。

ISO 17470:2004 中可能用到的儀器設備

微量分光光度計

專題

電子探針x射線顯微分析光譜顯微分析顯微光譜分析顯微分析光譜微型光譜分析儀波長色散電子探針微量分析色散x射線微量分析電子探針 x射線量分析波譜和能譜的優缺點 x射線和電子探針電子探針x射線分析

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誰引用了ISO 17470:2004 更多引用

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