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BH GSO ISO 17470:2017
微束分析電子探針微量分析波長色散X射線光譜定性點分析指南

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

標準號: BH GSO ISO 17470:2017
發布: 2017年
發布單位: 巴林國家計量局
當前最新: BH GSO ISO 17470:2017

介紹: 該標準提供了關于使用波長色散X射線光譜進行電子探針微量分析的指導。主要關注于在微束分析領域中定性點分析的方法和實踐，適用于需要精確物質成分測定的研究和技術應用。

***此介紹可能不準確，請注意參考原文。

專題

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