X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(X-熒光)。 波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)。是用晶體分光而后由探測器接受經過衍射的特征X射線信號。...
一.X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同事測定的儀器。在X射線激發下,被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(X-熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)。是用晶體分光而后由探測器接受經過衍射的特征X射線信號。...
X射線熒光光譜儀(XRF),樣品中原子受到高能X射線的照射,電子躍遷會發射出特征X射線,不同的元素會產生不同的特征X射線,針對這一特性,能夠對元素進行定性定量分析。除了幾個輕質元素之外,XRF的檢測范圍是非常廣泛的。同樣的電子探針也是利用X射線波長和強度對微區元素進行分析,常與電鏡聯用(SEM-EDS)。 ...
1.光譜分析:主要包括火焰和電熱原子吸收光譜AAS, 電感耦合等離子體原子發射光譜ICP-OES, X-射線熒光光譜XFS和X-射線衍射光譜分析法XRD; (1) 原子吸收光譜(Atomic Absorption Spectrometry, AAS) 又稱原子吸收分光光度分析。...
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