掃描電鏡 制樣
本專題涉及掃描電鏡 制樣的標準有83條。
國際標準分類中，掃描電鏡 制樣涉及到教育、分析化學、光學設備、陶瓷、光學和光學測量、建筑材料、詞匯、光電子學、激光設備、長度和角度測量、表面處理和鍍涂、有色金屬、空氣質量、電子顯示器件、犯罪行為防范、熱力學和溫度測量、涂料和清漆。
在中國標準分類中，掃描電鏡 制樣涉及到教學專用儀器、石油地質勘探、石油勘探、開發與集輸工程綜合、基礎標準與通用方法、電子光學與其他物理光學儀器、油頁巖、特種陶瓷、電磁計量、、檢驗專用設備、化學計量、技術管理、材料防護、教育、學位、學銜、放大鏡與顯微鏡、電化學、熱化學、光學式分析儀器、金屬化學性能試驗方法、記錄儀器及光線示波器、光學設備、犯罪鑒定技術。
行業標準-教育，關于掃描電鏡 制樣的標準
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
- JY/T 0582-2020 掃描探針顯微鏡分析方法通則
行業標準-石油，關于掃描電鏡 制樣的標準
- SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于掃描電鏡 制樣的標準
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
日本工業標準調查會，關于掃描電鏡 制樣的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS R 1633:1998 掃描電子顯微鏡觀察用精細陶瓷和陶瓷粉末的樣品制備方法
國際標準化組織，關于掃描電鏡 制樣的標準
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
國家質檢總局，關于掃描電鏡 制樣的標準
- GB/T 18295-2001 油氣儲層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法
- GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測量 掃描電鏡法
- GB/T 17722-1999 金屬蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
- GB/T 20307-2006 納米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
- GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 27788-2011 微束分析.掃描電鏡.圖像放大倍率校準導則
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
行業標準-商品檢驗，關于掃描電鏡 制樣的標準
- SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學顯微鏡法
- SN/T 3009-2011 金屬表面海水腐蝕掃描電鏡鑒定方法
國家計量技術規范，關于掃描電鏡 制樣的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規范
- JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準規范
行業標準-機械，關于掃描電鏡 制樣的標準
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
- JB/T 7503-1994 金屬覆蓋層橫截面厚度.掃描電鏡測量方法
國家計量檢定規程，關于掃描電鏡 制樣的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規程
英國標準學會，關于掃描電鏡 制樣的標準
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準標準
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
韓國科技標準局，關于掃描電鏡 制樣的標準
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規則
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
- KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側向力顯微鏡法
- KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
- KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡 側向力顯微鏡方法
中國團體標準，關于掃描電鏡 制樣的標準
- T/SPSTS 032-2023 掃描電化學顯微鏡通用規范
- T/NLIA 004-2021 增材制造鋁合金掃描電鏡原位拉伸 試驗方法
- T/CSTM 00795-2022 材料實驗數據 掃描電鏡圖片要求
- T/COEMA 21O-2024 激光雷達用多面掃描轉鏡
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
- T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的測定掃描電鏡-能譜法
巴林國家計量局，關于掃描電鏡 制樣的標準
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
國家軍用標準-總裝備部，關于掃描電鏡 制樣的標準
- GJB 2666-1996 掃描反射鈹鏡體規范
- GJB 2666A-2018 掃描反射鈹鏡體規范
- GJB 737.11-1993 火工品藥劑試驗方法 粒度測定 掃描電鏡法
美國給水工程協會，關于掃描電鏡 制樣的標準
- AWWA ACE56156 使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評估膜表面污染模式
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于掃描電鏡 制樣的標準
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 9220:2013 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
美國材料與試驗協會，關于掃描電鏡 制樣的標準
- ASTM E766-98 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E766-98(2003) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南
- ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規程
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的標準指南
- ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準的標準方法
- ASTM E986-04(2024) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐
上海市標準，關于掃描電鏡 制樣的標準
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法
德國機械工程師協會，關于掃描電鏡 制樣的標準
- VDI 3866 Blatt 5-2004 技術產品中石棉的測定掃描電鏡法
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 BLATT 5-2015 技術產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 BLATT 5-2017 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
- VDI 3866 Blatt 5-2003 工業產品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
行業標準-司法，關于掃描電鏡 制樣的標準
- SF/T 0139-2023 泥土檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
廣東省標準，關于掃描電鏡 制樣的標準
- DB44/T 1527-2015 微束分析 掃描電鏡 圖像清晰度評價方法
江蘇省標準，關于掃描電鏡 制樣的標準
- DB32/T 4546-2023 電鏡掃描硅藻圖像自動化檢驗技術規范
意大利統一標準化組織，關于掃描電鏡 制樣的標準
- UNI EN ISO 9220:1998 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于掃描電鏡 制樣的標準
- GB/T 27788-2020 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則
丹麥標準化協會，關于掃描電鏡 制樣的標準
- DANSK DS/ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
