EN
RU
ES
超級原子力顯微鏡
本專題涉及超級原子力顯微鏡的標準有43條。
國際標準分類中，超級原子力顯微鏡涉及到分析化學、物理學、化學、航空航天制造用材料、熱力學和溫度測量、長度和角度測量、試驗條件和規程綜合、光學和光學測量、核能工程、陶瓷。
在中國標準分類中，超級原子力顯微鏡涉及到、基礎標準與通用方法、放大鏡與顯微鏡、物理學與力學、基礎學科綜合、勘探采礦和工藝監測核儀器、特種陶瓷、光學計量。
ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關于超級原子力顯微鏡的標準
- SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力顯微鏡（技術背景）
- SPB-M2-1-2007 通過原子力顯微鏡研究瀝青質的界面和流變學特性
- SPB-M6-1-2010 08 月 4 日：使用原子力顯微鏡研究瀝青質的界面和流變特性
- SPB-M14-1-2010 月 10 日：通過原子力顯微鏡研究瀝青質的相互作用和流變學性質
- SPB-M6-2-2010 月 8 日：通過原子力顯微鏡（AFM）測量瀝青質與不同表面之間的膠體相互作用
國際標準化組織，關于超級原子力顯微鏡的標準
- ISO 23729:2022 表面化學分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復程序指南
- ISO 21222:2020 表面化學分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點JKR法測定柔順材料彈性模量的程序
- ISO 13095:2014 表面化學分析. 原子力顯微鏡學. 納米結構測量用AFM探針柄輪廓的現場鑒定程序
- ISO/DIS 19606:2023 精細陶瓷（先進陶瓷、先進技術陶瓷）原子力顯微鏡精細陶瓷薄膜表面粗糙度測試方法
- ISO 19606:2017 精細陶瓷(高級陶瓷, 高級工業陶瓷). 采用原子力顯微技術的精細陶瓷薄膜表面硬度試驗方法
英國標準學會，關于超級原子力顯微鏡的標準
- BS ISO 23729:2022 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
- BS ISO 21222:2020 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
- 23/30461942 DC BS ISO 19606 精細陶瓷（高級陶瓷、先進技術陶瓷） 用原子力顯微鏡測定精細陶瓷薄膜表面粗糙度的方法
- BS ISO 13095:2014 表面化學分析. 原子力顯微鏡學. 納米結構測量用AFM探針柄輪廓的現場鑒定程序
- BS ISO 19606:2017 精細陶瓷(高級陶瓷, 高級工業陶瓷). 采用原子力顯微技術的精細陶瓷薄膜表面硬度試驗方法
中國團體標準，關于超級原子力顯微鏡的標準
- T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測量 原子力顯微鏡法
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
- T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜楊氏模量的測定 原子力顯微鏡法
美國材料與試驗協會，關于超級原子力顯微鏡的標準
- ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南
- ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級對原子力顯微鏡進行次納米位移級的Z倍率校準的標準規程
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的指南
- ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標準指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的標準指南
- ASTM E2859-11 利用原子力學顯微鏡進行尺寸測量的標準指南
德國標準化學會，關于超級原子力顯微鏡的標準
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進行粒子測量的準備和評估方法
國家質檢總局，關于超級原子力顯微鏡的標準
- GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法
- GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法
- GB/T 28872-2012 活細胞樣品納米結構的磁驅動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于超級原子力顯微鏡的標準
- GB/T 40066-2021 納米技術 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法
行業標準-核工業，關于超級原子力顯微鏡的標準
- EJ/T 20176-2018 金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測量方法
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于超級原子力顯微鏡的標準
- GB/T 32262-2015 用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
RU-GOST R，關于超級原子力顯微鏡的標準
- GOST 8.593-2009 國家測量統一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.鑒定方法
- GOST R 8.635-2007 國家測量統一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.校準方法
- GOST R 8.593-2009 確保測量一致性的國家體系.原子力掃描隧道顯微鏡.檢定規程
- GOST R 8.700-2010 確保測量一致性的國家體系.利用原子力掃描探針顯微鏡進行測量的表面粗糙度效果測高法
日本工業標準調查會，關于超級原子力顯微鏡的標準
- JIS R 1683:2007 用原子力顯微鏡方法測定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗方法
- JIS R 1683:2014 用原子力顯微鏡方法測定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗方法
國際電工委員會，關于超級原子力顯微鏡的標準
- IEC TS 62607-6-2:2023 納米制造.關鍵控制特性.第6-2部分:石墨烯.層數:原子力顯微鏡、光學透射、拉曼光譜
