GB/T 4937.3-2012
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第3部分：外部目檢
Semiconductor devices.Mechanical and climatic tests methods.Part 3:External visual examination
GBT4937.3-2012, GB4937.3-2012
GB/T 4937.3-2012 發布歷史
GB/T 4937.3-2012由國家質檢總局 CN-GB 發布于 2012-11-05，并于 2013-02-15 實施。
GB/T 4937.3-2012 在中國標準分類中歸屬于: L40 半導體分立器件綜合，在國際標準分類中歸屬于: 31.080.01 半導體器分立件綜合。
GB/T 4937.3-2012 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第3部分：外部目檢的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 4937.3-2012 。
GB/T 4937.3-2012 采用標準及采用方式
- IDT IEC 60749-3:2002半導體器件.機械和氣候試驗方法.第3部分:外觀檢驗
GB/T 4937.3-2012的歷代版本如下：
- 2012年 GB/T 4937.3-2012 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第3部分：外部目檢
GB/T 4937的本部分的目的是驗證半導體器件的材料、設計、結構、標志和工藝質量是否符合適用的采購文件的要求。外部目檢是非破壞性試驗，適用于所有的封裝類型。本試驗用于鑒定檢驗、過程監控、批接收。
- 標準號
- GB/T 4937.3-2012
- 別名
- GBT4937.3-2012
GB4937.3-2012 - 發布
- 2012年
- 采用標準
- IEC 60749-3:2002 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 4937.3-2012
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