-04-0122GB/T?4937.11-2018半導體器件?機械和氣候試驗方法?第11部分:快速溫度變化?雙液槽法2019-01-0123GB/T?4937.12-2018半導體器件?機械和氣候試驗方法?第12部分:掃頻振動2019-01-0124GB/T?4937.13-2018半導體器件?機械和氣候試驗方法?第13部分:鹽霧2019-01-0125GB/T?4937.14-2018半導體器件?...
(3)典型電效應有:1)電氣和電子元器件的變化;2)快速冷凝水或結霜引起電子或機械故障;3)靜電過量。5、冷熱沖擊測試方法的類型根據IEC和國家標準,分為三種:1、試驗Na:規定轉換時間的快速溫度變化;空氣;2、試驗Nb:規定變化速率的溫度變化;空氣;3、試驗Nc:兩液槽法快速溫度變化;液體;上面3種試驗,1、2以空氣作為介質,第3種以液體(水或其它液體)作為介質。...
雙液槽法GB/T4937.12-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分:掃頻振動GB/T4937.13-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第13部分:鹽霧GB/T4937.14-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第14部分:引出端強度(引線牢固性)GB/T4937.15-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第15部分:通孔安裝器件的耐焊接熱GB/T4937.17-2018...
Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號