部分:高溫工作壽命2023/5/232023/12/124GB/T 20870.10-2023半導體器件 第16-10部分:單片微波集成電路技術可接收程序2023/9/72024/1/125GB/T 4937.27-2023半導體器件 機械和氣候試驗方法 第27部分:靜電放電(ESD)敏感度測試 機器模型(MM)2023/5/232023/12/126GB/T 4937.32-2023半導體器件 機械和氣候試驗方法...
《半導體器件 機械和氣候試驗方法 第7部分:內部水汽含量測試和其它殘余氣體分析》等53項國家標準制修訂計劃(征求意見稿).docx 3. 標準立項反饋意見表.doc 工業和信息化部科技司 2018年4月27日...
一提起環境試驗箱,先了解一下“環境”與“試驗箱”,“環境”由許多環境條件組成,指待測樣品在特定時間內所經受的外部條件總和,可以是機械的、氣候的、生物的,以及由于化學活性物質和機械活性物質產生的其他效應。 “試驗箱”的定義是“能夠達到規定的試驗條件的某部分封閉體或空間”,來模擬所需要測試的環境因素參數及其相應的嚴酷程度。...
高溫測試是用來確定產品在高溫氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續時間。常見的高溫測試標準主要有GB國標、ASTM、IEC等,適用的產品種類非常多。高溫測試是模擬產品在貯存、裝配和使用過程中的耐高溫狀況而進行的可靠性試驗,高溫試驗也是最長用的加速壽命測試。...
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